電子顯微鏡分析儀器

Oxford system


掃描電子及離子束顯微鏡可進行微區能譜分析(EDS/EDX),波譜分析(WDS)以及電子背散射繞射(EBSD)分析。

  • EDS可提供特徵元素及/或成分含量
  • WDS也可提供元素及成分含量分析,但是準確性及精度更高
  • WDS也可提供元素及成分含量分析,但是準確性及精度更高
  • 同時提供專業應用模組,如槍擊殘留物分析,礦物解離度分析意義多層膜厚度及成分測量


合作夥伴