MAG*I*CAL可追溯TEM標準校正樣品

可追溯穿透式電子顯微鏡標準校正樣品

這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數,並 且適用於所有的穿透式電子顯微鏡(TEM) 標準樣品主要校正三個項目: •  倍率校正,適用所有放大倍率 •  相機參數 •  影像 、繞射、旋轉校正

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