Gentle Mill TEM/FIB样品离子减薄仪

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1.Gentle Mill:采用先进的热阴极低能量离子源

2.计算机式操作具有独特的专利技术

3.对样品无损坏并可将离子束诱导的无定形物减至最小限度

4.可用于最终抛光, 很容易对先前在标准高能离子减薄仪上或FIB上处理过的样品进行清洁及改善性能。

5.适用于XTEM(截面透射电镜)、HRTEM(高分辨透射电镜)或STEM(扫描透射电镜之样品制备)。

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