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場發射電子顯微鏡_featured image

場發射顯微鏡是什麼?不可不知的新一代奈米技術研究新寵兒!

什麼是場發射電子顯微鏡(FE-SEM)?FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡(SEM)有什麼不同?本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源,並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別,勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔!

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pcb切片分析

PCB切片分析的重要性:微時代提升電路板產業競爭力的關鍵

在 5G 時代,我們的生活與科技息息相關,電子產品的好壞直接關係到我們日常的便利與體驗品質,而電子產品中的關鍵角色——印刷電路板(PCB)的重要性更日益增加。本文將介紹 PCB 產業的現況與 PCB 切片分析技術操作原理,一同揭開它的神秘面紗。

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材料分析如何協助解決晶圓缺陷,提升製程良率!

在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。

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表面分析

表面分析是什麼?捕捉半導體製程缺陷必備!

在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。

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截面觀察

截面觀察:如何挑選IC切片手法,找出半導體失效原因!

IC切片手法大致分為裂片 (Cleavage)、傳統機械研磨(Grinding)、離子研磨CP(Ion Milling)、聚焦離子束FIB(Focused Ion Beam)等四種。想要知道四種IC切片手法的優缺點與適用環境嗎?本文除了詳細解釋以外,還附上案例照片影片供您參考喔!

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奈米分析揭密:掃描式電子顯微鏡的不可或缺性!

奈米分析揭密:掃描式電子顯微鏡對微結構分析的重要性!

什麼是奈米粒子,本文詳細介紹奈米粒子的特性,以及為什麼需要進行奈米粒子分析?想要知道奈米分析在各產業中佔據了多重要的地位嗎?想要知道如何透掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀測微觀的奈米世界嗎?千萬不要錯過本文喔!

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