MAG*I*CAL可追溯TEM標準校正樣品

產品特色：
這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數，並且適用於所有的穿透式電子顯微鏡（TEM） 標準樣品
主要校正三個項目：
●　倍率校正，適用所有放大倍率
●　相機參數
●　影像 、繞射、旋轉校正