首頁 > products > 電子訊號整合方案 > 背向散射電子擷取系統 BSE acquisition
電子訊號整合方案-整合並自動化您的電子顯微系統

背向散射電子擷取系統 BSE acquisition

背向散射電子擷取-使用量化背散射電子(qBSE),對材料密度進行映射,並以高空間解析度來描述相位的分佈。

電子顯微鏡(SEM)或焦點離子束電子顯微鏡(FIB-SEM)應用,利用定量背向散射電子 (qBSE),可以繪製材料密度圖並以高空間解析度表徵相的分佈。用於探測和分析關於樣品結構、成分和特性的詳細資訊,並支援各種類型的影像捕獲和分析。使研究人員能夠定量了解材料特性,例如晶體學、相分佈和原子組成。

特點:

  • 影像捕獲:捕獲來自樣品的背向散射電子(BSE)信號,這些信號能提供關於樣品結構和組成的信息。
  • 定量分析:設備可以進行定量分析,根據捕獲的BSE信號來計算像素值。助於評估樣品的特性。
  • 彩色影像:支援創建彩色影像,使用BSE信號進行著色,以便更好地視覺化樣品特徵。
  • 動態記錄:設備可用於記錄樣品在不同條件下的動態過程,例如加熱過程、結晶、恢復和燒結等。
  • 三維視覺化:可用於重建三維資訊,測量表面高度,以及在SEM拓撲圖像中添加額外紋理等。
  • 在科學研究、材料科學、生物學、奈米技術等領域中有廣泛的應用
  • 揭示土壤結構並識別礦物成分
  • 確定生物結構中的內容變化
  • 影像奈米顆粒的形狀、大小和分佈
  • 識別SEM中的位錯、層狀缺陷和晶界
  • 影像顆粒的晶體學方向
  • 映射晶格變形
  • 影像鋼材和合金中顆粒的分佈和形狀
  • 測量骨骼中礦物濃度的變化
  • 識別金屬基復合材料中的相位並測量面積分數
  • 使用高速BSE導航大樣本
  • 在不切換到SE影像的情況下對齊SEM
  • 通過高速線和幀平均來減小樣本充電
  • 獲取彩色影像和動畫
  • 使用BSE信號給SEM影像上色
  • 製作出版品質的影像
  • 獲取基於時間或旋轉的系列影片
  • 觀察結晶、恢復和燒結
  • 使用原位ESEM記錄生長動態
  • 量化高溫下的蠕變和斷裂
  • 使用SEM拓撲圖測量表面高度
  • 了解生物樣本的體積
  • 使用3D掃描獲取微觀3D模型

完整的定量BSE採集系統

  • BSE偵測器
  • SEM 掃描控制器 (DISS6)
  • MICS-4放大器
  • BSE參考樣品

硬體:

BSE 偵測器

  • 分段的四象限感測器,最高性能的矽基偵測器
  • 原位前置放大器,用於降低雜訊並實現高速操作
  • 端口安裝通過自動方式進行插入和退出操作
  • 整合觸控警報
  • 在真空條件下實現完整對齊
  • 廣範用於材料科學、地質學和工業應用

高溫BSE偵測器

  • 結合了電極技術和特製的電子元件、機械部件和軟體,具有經校準的4Q偵測器,可應對高溫和各種環境條件
  • 四象限電極可以塗上各種材料,以優化特定能量範圍內的吸收效率
  • 整個偵測器前端可輕鬆拆卸、清潔和重新塗裝。
  • 電極不感應由熱樣品發射的光,使用偵測器偏壓過濾熱電子,最高溫度僅受輻射加熱的限制,適用於雷射加熱。
  • TOPO和COMPO混合在偵測器硬體中進行,所得4Q訊號專為表面分析地形重建而設計

SEM 掃描控制器 (DISS6)

  • 整合的掃描產生器和影像擷取
  • 校準 16 位元訊號數位化
  • 標準 4x 同步 SEM 訊號輸入
  • 為原位前置放大器添加了 8 個同時輸入
  • 每個訊號獨立的亮度和對比控制

MICS 放大器

  • 整合到BSE偵測器、DISS6或獨立使用
  • 經校準的放大,用於定量擷取
  • 最多16倍多通道信號放大
  • 每個信號獨立的亮度和對比度調整
  • 4個信號組的全局亮度和對比度

軟體:

DISS6 影像控制和截取應用程式

  • 多合一設備:結合了掃描生成器和影像擷取功能,簡化了影像擷取流程,提供更多控制選項。
  • 多種掃描模式:支援矩形點陣式和向量掃描,滿足不同的掃描需求。
  • 自定義應用程式開發:開發者可使用提供的SDK創建自定義應用程式,滿足特定需求。
  • 顯微鏡應用支援:針對SEM、FIB和STEM等顯微鏡應用進行設計,具有優異的性能。
  • 高解析度和快速掃描速度:提供高達500百萬像素的影像解析度和快速的掃描速度。
  • 多通道信號處理:同時擷取4個類比信號,高達12位數的數據擷取,有助於精確捕捉不同信號源的數據。
  • 多功能觸發和同步選項:提供多樣的觸發和同步選項,確保數據一致性和準確性。
  • 多種可選功能:包括MICS、CCD影片擷取器和20位數字鎖相放大器,擴充系統功能。
  • 機架安裝選項:支援機架安裝,提供更多配置選擇。
  • 軟體控制:所有控制和擷取集中在軟體中,方便用戶控制各種參數。
  • 多信號顯示:支援同時顯示多達4個類比信號,包括次級電子、進階鏡頭等。
  • 組合彩色影像:可混合不同信號生成複合彩色影像,並自定義彩色和強度設置。
  • 定量工具:提供多種定量工具,用於測量和分析數據。
  • 自定義掃描配置:用戶可以根據需要自定義掃描配置,包括快速即時掃描和高解析度掃描。
  • 多種分析技術支援:包括元素分析和成分分佈分析等多種分析技術。

DIPS6 – 定量影像處理應用程式

  • 快速顯示圖像和中繼資料
  • 直觀的色彩管理
  • 輕鬆的影像註釋和幾何測量
  • 支援像素定量以及匯出影像和圖表

規格表:

BSE偵測器

感測器
  • 4Q分段矽二極體,安裝在陶瓷板上
  • 內徑:6毫米
  • 外徑:20毫米
  • 電子能量範圍:1至30千電子伏特(keV)
放大器
  • 預內部安裝
  • 頻寬:5兆赫茲
  • 增益:105或106 V/A
架構
  • 連接埠安裝,附真空波紋管
  • 電動插入/撤回運動
  • 手動橫向和高度對齊
  • 整合觸摸警報

高溫BSE偵測器

感測器

  • 4x 象限電極
  • 碳塗層
  • 典型內徑5公分
  • 典型外徑25公分
  • -10…10伏電壓偏置

前置放大器

  • 4x 原位安裝
  • 電隔離
  • 5×107 V/A
  • 50千赫頻寬

主放大器(MICS-4)

  • 4x獨立信號通道
  • -1.25 … 1.25 V(帶有衰減器的-50…50毫伏)輸入偏移
  • 1× … 1,800× 增益
  • -1.25 … 1.25 V 輸出偏移
  • 3.4兆赫…34赫茲低通濾波器
  • 自動4Q全局亮度和對比度
  • 自動輸入偏移(暗校正)
  • 自動增益歸一化(亮校正)
  • COMPO硬體混合信號(BSE1…BSE4的總和)
  • TOPO硬體混合信號(BSE1…BSE4的混合)

架構(LIMA)

  • 連接埠安裝,帶有真空波紋管
  • 電動插入/退出運動
  • -4…4公釐手動橫向和高度對齊
  • 10微米重定位步進大小
  • 整合觸摸報警,具有自動停止和退出
  • 被動冷卻

介面

  • 1×用於放大器控制的USB 2.0
  • 1×用於運動控制的USB 2.0
  • 1× RJ45信號輸出

信號輸出

  • 獨立的BSE1…BSE4
  • COMPO(BSE1…BSE4的總和)
  • TOPO(BSE1…BSE4的混合)

DISS6成像

輸入
  • 4個校準BSE類比輸入
  • 8個校準輔助類比輸入(SE,CL,AUX)
  • 12個數位輸入(D1…D12)
  • 3個觸發輸入(Pixel,Line和Frame)
  • 掃描暫停/恢復輸入
輸出
  • 4個BSE1…BSE4信號輸出
  • 2個BSE混合信號輸出(SUM和MIX)
  • 2個校準類比掃描輸出(X,Y)
  • 2個外部控制輸出(Blank和Scan)
  • 4個時鐘輸出(Pixel,Line,Frame和Blank)
掃描
  • 16位 ±3.5…±12V 類比X、Y掃描
  • Gnd,5V,15V 外部電源/掃描
  • TTL暫停/恢復
  • TTL時鐘和同步
  • 最大畫面大小:0.5 G像素(受軟件限制)
  • 像素停留時間:10奈秒至10毫秒(根據選擇)
  • 像素平均:1至32,000×(超取樣)
數位化​
  • 類比信號的12位數位化
  • TTL D1…D12的16位數位化
  • TTL D1…D6的32位數位化(可選)
MICS-4放大器
  • 輸入偏移:-1至1 V(BSE1…BSE4)
  • 增益:1×至1,800×(BSE1…BSE4)
  • 輸出偏移:-0.5至0.5 V(BSE1…BSE4)
  • 低通濾波器:3.4兆赫茲至34赫茲
  • 自動4Q全局亮度和對比度
  • 自動輸入偏移(暗校正)
  • 自動增益規範化(亮校正)

PC/筆記型電腦和顯示器(可選)

  • 最低配置:Intel Core i3
  • 最低要求:2 × USB 2.0
  • 顯示器最低解析度:1,280 × 1,024
  • 建議使用1個顯示器
  • 操作系統:Windows 10至Windows XP
  • 建議使用網絡連接

DISS6應用程式

偵測器控制

  • 自動插入/撤回
  • 調整對比度和亮度
  • 輸入偏移和增益規範化校正
  • 硬體上的“地形”和“組成”混合

定量公式

  • 基於像素值的定量公式
  • 自動使用亮度和對比度值
  • 可選使用SEM參數(HV、WD等)
  • 即時檢查計算的像素值

圖像掃描

  • 工作流程具有預定義掃描配置
  • 即時顏色混合工具
  • 即時線掃描和直方圖工具
  • 高級線和點掃描
  • 獲取期間自動圖像範圍

檔案格式

  • 未處理的16位多頁TIF檔案(帶有XMP標籤)
  • 壓縮的8位多頁TIF檔案(帶有XMP標籤)
  • 帶有XMP標籤的壓縮JPEG檔案

操作系統

  • Windows 11至Windows 7

DIPS6應用程式

檔案輸入

  • 原始 16 位多頁 TIF(帶 XMP 標籤)
  • 壓縮 8 位多頁 TIF(帶 XMP 標籤)
  • 壓縮 JPEG(帶 XMP 標籤)

檔案輸出

  • 用於彩色匯出的 PNG
  • 用於定量數據匯出的 CSV
  • 壓縮 JPEG(帶 XMP 標籤)

定量公式

  • 基於公式的像素值定量
  • 從中繼資料或 XML 匯入的公式

偽色彩

  • GGR 漸變色彩
  • 彩色圖像混合檢視

操作系統

  • Windows 11至Windows 7

軟體套件

驅動程式

  • PEUSB 驅動程式
  • DISS6 控件庫

伺服器

  • EM Gateway

應用程式

  • DISS 6應用程式
  • DIPS 6應用程式

零組件與連接線

  • BSE 偵測器 標準 1x
  • DISS6 影像 標準 1x
  • MICS 放大器(如果未嵌入在 DISS6/det 中) 選擇性 1x
  • BSE 參考樣本 選擇性 1x
  • BSE 偵測器連接線 標準 1x
  • SEM 連接線 標準 1x
  • USB 連接線 標準 2x
  • 帶軟體的 USB 隨身碟 標準 1x
  • 個人電腦、鍵盤、滑鼠 選擇性 1x
  • 顯示器 選擇性 1x

重量和尺寸

BSE 偵測器

  • 15 x 20 x 40 公分
  • 8.5 公斤

DISS6 影像

  • 23.5 x 8.8 x 29.5 公分
  • 4 公斤

現場需求

電源

  • 1x 110/220 伏交流,單相,50-60 赫茲
  • 與顯微鏡相同的接地

顯微鏡

  • 1x 外部掃描接口
  • 1x 接地連接
  • 1x 偵測器端口

空間

  • DISS6 影像單元可放置在SEM 檯子/桌子上
  • PC(可選)應放在 SEM 房間中

手冊下載:

返回頂端