桌上型掃描式電子顯微鏡|鋼鐵介在物分析|ParticleX Steel SEM
在煉鋼過程中對非金屬介在物的控制至關重要，為了瞭解鋼鐵中的非金屬介在物形成的參數，及時準確的數據取得是一大關鍵 […]
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電性故障分析系統 Electrical Failure Analysis(EFA)
專為電性故障分析(EFA)設計的專用設備，全面電性故障分析技術應用、次微米級解析度可精確定位缺陷，並可自動定量
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STEM電子計數系統 STEM electron counting
STEM 計數是一種廣泛應用於材料科學和奈米技術領域的強大技術。它用於表徵奈米顆粒、研究晶體缺陷以及在原子尺度
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SEM電性分析系統 Electrical Analysis for SEM
應用於電子顯微鏡（SEM）或焦點離子束電子顯微鏡（FIB-SEM）電性定量分析的最佳系統，電子裝置完全整合並由
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TEM電性分析系統 Electrical Analysis for TEM
奈米級電性的原位成像，以深入了解奈米級材料和裝置的行為和特性，可用於半導體材料、太陽能電池、光電器件、材料科學
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背向散射電子擷取系統 BSE acquisition
電子顯微鏡（SEM）或焦點離子束電子顯微鏡（FIB-SEM）應用，利用定量背向散射電子 (qBSE)，可以繪製
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EBSD 原位加熱樣品台 Heating Stage 1000℃
產品品牌：Mel-Build 產品特色： ● 專為EBSD分析而設計，可觀測樣品在加熱的當下狀態，最高可在10
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SEM原位拉伸/加熱樣品台 In-situ Tensile Stage 1500N
產品品牌：Mel-Build 產品特色： ● 高功率原位拉伸功能，可觀測樣品被拉伸的當下狀態，最大拉伸力為15
SEM原位拉伸/加熱樣品台 In-situ Tensile Stage 1500N Read More »
