STEM電子計數系統 STEM electron counting
STEM 計數是一種廣泛應用於材料科學和奈米技術領域的強大技術。它用於表徵奈米顆粒、研究晶體缺陷以及在原子尺度 […]
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STEM 計數是一種廣泛應用於材料科學和奈米技術領域的強大技術。它用於表徵奈米顆粒、研究晶體缺陷以及在原子尺度 […]
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應用於電子顯微鏡(SEM)或焦點離子束電子顯微鏡(FIB-SEM)電性定量分析的最佳系統,電子裝置完全整合並由
SEM電性分析系統 Electrical Analysis for SEM Read More »
奈米級電性的原位成像,以深入了解奈米級材料和裝置的行為和特性,可用於半導體材料、太陽能電池、光電器件、材料科學
TEM電性分析系統 Electrical Analysis for TEM Read More »
電子顯微鏡(SEM)或焦點離子束電子顯微鏡(FIB-SEM)應用,利用定量背向散射電子 (qBSE),可以繪製
背向散射電子擷取系統 BSE acquisition Read More »
產品品牌:Mel-Build 產品特色: ● 專為EBSD分析而設計,可觀測樣品在加熱的當下狀態,最高可在10
EBSD 原位加熱樣品台 Heating Stage 1000℃ Read More »
產品品牌:Mel-Build 產品特色: ● 高功率原位拉伸功能,可觀測樣品被拉伸的當下狀態,最大拉伸力為15
SEM原位拉伸/加熱樣品台 In-situ Tensile Stage 1500N Read More »
產品品牌:PIE Scientific 產品型號:Tergeo-EM 產品特色: ● 唯一一款可適用SEM及T
桌上型電漿清洗機 Tergeo Plasma Cleaner – EM Read More »
產品品牌:PIE Scientific 產品型號:Tergeo-Pro 產品特色: ● 大樣品室(內徑:9″/
桌上型電漿清洗機 Tergeo Plasma Cleaner – Pro Read More »
產品品牌:PIE Scientific 產品型號:Tergeo-Plus 產品特色: ● 大樣品室(內徑:16
桌上型電漿清洗機 Tergeo Plasma Cleaner – Plus Read More »
產品品牌:Mel-Build 產品特色: ● 微型尺寸φ42 mm ● SEM / EBSD / EDS /
電子式製冷 SEM/FIB 專用冷台 Read More »