Phenom GSR 槍支殘留物專用分析電子顯微鏡

產品特色

  1. 專門槍支殘留物分析結果
  2. 環境只需要一個小實驗室空間
  3. 可七天24小時長時間穩定運行
  4. 長效型高亮度高解析的CeB6燈絲源(非一般鎢燈絲)
  5. 可升級加裝元素分析儀(EDS)

規格表

光學放大倍率
20-134x
3-16x
20-134x
電子放大倍率
200-1,000,000x
80-1,000,000x
80-150,000x
解析度
2.5 nm SED and 4 nm BSD
≤ 14 nm
≤ 8 nm SED and ≤ 10 nm BSD
加速電壓
默認值:5kV,10kV和15kV
進階模式:2kV至15kV之間的可調範圍
默認值:5kV,10kV和15kV
進階模式:2kV至15kV之間的可調範圍
默認值:5kV,10kV和15kV
高級模式:成像和分析模式在4.8kV和15kV
之間可調20kV可選
真空模式
高真空模式
中真空模式
電荷減少模式(低真空模式)
高真空模式
中真空模式
電荷減少模式(低真空模式)
高真空模式
電荷減少模式(低真空模式)
探測器
BSD
EDS選配
SED選配
BSD
EDS optional
SED optional
BSD
EDS
SED選配
樣品尺寸
最高可達 32mm
範圍最大 100mm x 100mm
可放置36個12mm載台
最高可達32mm
樣品高度
最高可達 100mm
最大至 65mm
最高可達 100mm

特殊設計樣品台

P-Series樣品杯

XL-Series樣品台

專業輔助軟體

Phenom桌上型電子顯微鏡擁有完整的可擴充性,在SEM的基礎上增加了多種的分析軟體,滿足客戶進階分析的需求。

ProSuite 軟體

ProSuite 軟體包能夠使Phenom 電子顯微鏡使用者從拍攝的圖像中獲取大量的訊息,延展了SEM能力,滿足特定用戶的需求。

顆粒統計分析量測系統

顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。

3D粗糙度重建系統

3D粗糙度重建系統使Phenom 電子顯微鏡能夠建立樣品3D圖像以及亞微米粗糙度量測。

Phenom自動化介面(PPI)

如果用戶想把Phenom電鏡整合或者創建一個客製的解決方案,Phenom自動化介面PPI是必不可少的。PPI可以控制Phenom電鏡的部分功能,包括樣品台、導航相機和影像拍攝…。

孔徑統計分析量測系統

孔徑統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的孔徑分布及孔徑參數 (粒徑尺寸、長短軸比…)。

元素分析線面掃描系統

元素分析線面掃描系統是EID軟體中的選配項,能夠顯示出樣品的元素分布情形。使用者可以針對某個點自行設定像素分辨率與擷取時間後進行元素分析。

纖維統計分析量測系統

相對於以往手動量測數值,纖維統計分析量測系統能快速獲得更精確的數值,效率高,操作簡單,更可以測量和分析具有大纖維直徑差異的樣品。

產業類別

聯絡表單

Scroll to Top