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電子訊號整合方案-整合並自動化您的電子顯微系統

STEM電子計數系統 STEM electron counting

STEM電子計數-具有單電子計數功能的掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)低劑量成像設備

STEM 計數是一種廣泛應用於材料科學和奈米技術領域的強大技術。它用於表徵奈米顆粒、研究晶體缺陷以及在原子尺度上對生物樣本進行成像。

我們的 STEM電子計數,能提供經校準的單一電子單位圖像,確保真正的零背景水平和純粹的泊松噪音,從而提高測量的精度和可靠性。對於低劑量成像非常有用。

同時具有多種偵測器選項、數位信號處理、影像處理、以及量測工具和多種檔案格式支援等功能,專為低劑量掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)影像而設計

特點:

  • STEM偵測器支援同時監視和記錄來自不同信號或偵測器的信息,並允許原位觀察和分析。
  • DISS6應用程式允許連續時間數據收集,以觀察樣品的動態過程。
  • DIPS6提供進階資料夾導航和檢視功能,以管理和檢視大量的影像和數據。
  • 適用於半導體製造和研發、材料科學和奈米技術、生命科學和細胞生物學、教育和研究。

完整的STEM電子計數系統

  • TEM掃描控制器
  • MICS-8放大器(選配)
  • STEM偵測器(可選)
  • 類比脈衝鑑別器
  • DISS6影像控制和截取系統
  • DIPS6定量影像處理應用程式

硬體:

穿透式電子顯微鏡掃描控制器 TEM Scan Controller

  • 多種掃描模式、高精度的掃描生成器、數位化能力。
  • 掃描訊號可適用於主流TEM 外部掃描介面的類比輸出。
  • 具觸控面版,提供掃描狀態概述、已安裝選項列表等資訊。
  • 可透過 USB 或 ETH 介面連接到 PC 或筆電。
  • 標準控制和資料接口,適用於 Windows 和 Linux。
  • 可選的擴充選項,如電子計數、鎖相放大器和MICS放大器。

MICS 放大器

  • 整合到BSE偵測器、DISS6或獨立使用
  • 經校準的放大,用於定量擷取
  • 最多16倍多通道信號放大
  • 每個信號獨立的亮度和對比度調整
  • 4個信號組的全局亮度和對比度

STEM偵測器

  • 支援不同的訊號模式,包括高角度散射電子選區(HAADF)、暗場散射(ADF)和亮場(BF)訊號輸出,以滿足不同的成像和分析需求。
  • 具有高靈敏度,可以偵測到單個電子信號,工作範圍在60至300千電子伏特(keV)。
  • 使用P|N矽二極體感測器,該感測器具有內建的前置放大器,有助於增強信號並提高信噪比。
  • 偵測器插入和收回時,配有互鎖控制,以確保操作的安全性和精確性。
  • 用戶可以選擇偵測器的不同配置,包括是否具有中央孔洞的二極體,是否使用四象限幾何形狀的二極體,以及前置放大器的增益設置,以優化性能。

類比脈衝鑑別器

  • 類比脈衝鑑別器將單個電子的脈衝訊號轉換為數位信號,以進一步處理和分析。
  • 使用”over-the-threshold logic”(超閾值邏輯)來判別有效信號,並轉為數位形式。
  • 支援多個通道,每個通道都可以獨立配置其閾值靈敏度,以滿足不同信號的需求。
  • turboTEM PULSE技術是一種進階的脈衝處理技術,用於提高數位脈衝判別的效能。
  • 使用基於梯度的邏輯來更有效地識別脈衝訊號,並通過計數堆積的脈衝來擴大劑量範圍。

軟體:

DISS6 影像控制和截取應用程式

  • 多合一設備:結合了掃描生成器和影像擷取功能,簡化了影像擷取流程,提供更多控制選項。
  • 多種掃描模式:支援矩形點陣式和向量掃描,滿足不同的掃描需求。
  • 自定義應用程式開發:開發者可使用提供的SDK創建自定義應用程式,滿足特定需求。
  • 顯微鏡應用支援:針對SEM、FIB和STEM等顯微鏡應用進行設計,具有優異的性能。
  • 高解析度和快速掃描速度:提供高達500百萬像素的影像解析度和快速的掃描速度。
  • 多通道信號處理:同時擷取4個類比信號,高達12位數的數據擷取,有助於精確捕捉不同信號源的數據。
  • 多功能觸發和同步選項:提供多樣的觸發和同步選項,確保數據一致性和準確性。
  • 多種可選功能:包括MICS、CCD影片擷取器和20位數字鎖相放大器,擴充系統功能。
  • 機櫃安裝選項:支援機櫃安裝,提供更多配置選擇。
  • 軟體控制:所有控制和擷取集中在軟體中,方便用戶控制各種參數。
  • 多信號顯示:支援同時顯示多達4個類比信號,包括次級電子、進階鏡頭等。
  • 組合彩色影像:可混合不同信號生成複合彩色影像,並自定義彩色和強度設置。
  • 定量工具:提供多種定量工具,用於測量和分析數據。
  • 自定義掃描配置:用戶可以根據需要自定義掃描配置,包括快速即時掃描和高解析度掃描。
  • 多種分析技術支援:包括元素分析和成分分佈分析等多種分析技術。

DIPS6 – 定量影像處理應用程式

  • 快速顯示圖像和中繼資料
  • 直觀的色彩管理
  • 輕鬆的影像註釋和幾何測量
  • 支援像素定量以及匯出影像和圖表

規格表:

STEM偵測器

感測器

  • 分段矽二極管
  • 最大外徑:32毫米
  • 最小內孔直徑:0.2毫米
  • 電子能量範圍:60至300千電子伏特(keV)

前置放大器

  • 現場安裝
  • 頻寬:1兆赫茲
  • 增益:200 kV/A

架構

  • 氣動插入/撤回
  • 端口安裝
  • 獨立氣動控制(可選)

LJ DISS6成像

標準輸入

  • 8個校準的類比輸入(A1…A4,B1…B4)
  • 12個數位輸入(D1…D12)
  • 3個觸發輸入(Pixel,Line和Frame)
  • 掃描暫停/恢復

標準輸出

  • 2個校準的類比掃描輸出(X,Y)
  • 2個外部控制輸出(Blank和Scan)
  • 4個時鐘輸出(Pixel,Line,Frame和Blank)

掃描生成器

  • 16位 ±3.5…±12V 類比X、Y掃描
  • 外部電源/掃描:Gnd,5V,15V
  • TTL暫停/恢復
  • TTL時鐘和同步
  • 最大畫面大小:0.5 G像素(受軟體限制)
  • 像素停留時間:10奈秒至10毫秒(根據選擇)
  • 像素平均:1至32,000×(超取樣)

脈衝鑑別器

  • 8個獨立通道
  • 基於閾值的比較器
  • 閾值範圍:-0.5至0.5 V

信號數位化

  • 類比A1..A4,B1…B4的12位數位化
  • TTL D1…D12的16位數位化
  • TTL D1…D6的32位數位化(可選)

氣動控制(可選)

  • 用於閥門和傳感器的類比接口
  • 安全自動撤回固件自動化

MICS放大器(可選)

  • 最大16個校準輸入(M1…M16)
  • 輸入偏移:-1至1 V(M1…M16)
  • 增益:1×至1,800×(M1…M16)
  • 輸出偏移:-1至1 V(M1…M16)
  • 低通濾波器:3.4兆赫茲至34赫茲
  • 自動4Q全局亮度和對比度
  • 自動輸入偏移(暗校正)
  • 自動增益正規化(亮校正)

零組件與連接線

  • STEM偵測器:標準1x
  • LJ DISS6成像:標準1x
  • 氣動控制器:可選1x
  • turboTEM脈衝鑑別器:可選1x
  • MICS放大器:可選1x
  • 偵測器連接線:標準1x
  • 控制器連接線:標準1x
  • TEM連接線:標準1x
  • USB連接線:標準1x
  • 帶軟體的USB隨身碟:標準1x
  • PC,鍵盤,滑鼠:可選1x
  • 顯示器:可選1x

軟體套件

驅動程式

  • PEUSB驅動程式
  • DISS6控件庫

伺服器

  • EM Gateway(可選)

應用程式

  • DISS6應用程式
  • DIPS6應用程式

重量和尺寸

STEM偵測器

  • 43 x 33 x 48 厘米
  • 25 公斤

LJ DISS6成像

  • 64 x 8.7 x 29.5 厘米
  • 3.4 公斤

現場要求

電源

  • 1x 110/220 VAC 單相 50-60 赫茲
  • 與顯微鏡相同的接地上

顯微鏡

  • 1x 外部掃描接口
  • 1x 接地連接
  • 1x 偵測器端口

空間要求

  • LJ DISS6成像單元應放置在19英寸機櫃中
  • 氣動控制器可放置在實驗室地板上
  • PC(可選)應放在控制室

手冊下載:

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