您是否正面臨這樣的情況？
「想簡單快速取得奈米級成像
讓製程更有效率」
研發製程
「面對巨量進料待測樣品
一個個檢測到何時？」
品管/品保
「SEM、樣品製備、環境量測等， 各需求不同供應商，一個頭兩個大」
採購單位
Phenom桌上型掃描式電子顯微鏡
打造高效實驗室環境
直覺式操作介面
降低冗長的教育訓練
放大倍率最高達2,000,000x
他牌SEM抽真空需3-5分鐘
採用CeB6/FEG燈絲源壽命長、亮度更佳
傳統鎢絲燈壽命僅約50小時
首創桌上型場發射SEM
方便取得奈米成像
FEG場發射燈絲源解析度優於2nm，能滿足半導體、電子產業等奈米級成像需求，省去頻繁進出無塵室的麻煩。
●快速確認調整各項參數後產品的變化
●快速找出失效原因以採取相應施
●搭配EDS元素分析等更多檢測模式
製程改善、品質檢測、失效分析快速取得結果
品保/品管福音，即刻提升工作效率
大樣品艙桌上型SEM
海量樣品一次性拍攝
●100*100mm大樣品艙設計，最多可放置36個樣品載台
●搭配Auto Scan海量樣品一次性自動拍攝，降低重複性作業時間
●PPA/PPI軟體客製專屬自動化系統
36個載台放入SEM，一次觀看上百個樣品(勀傑科技協助客製化)。
【Phenom ParticleX】顆粒分析客製化解決方案
整合EDS功能 | 一鍵導入自動化程序
依據半導體、電池、鋼鐵等產業需求選擇電子顯微鏡
提供多種國際標準認證報告格式
•快速偵測鋼材中的非金屬介在物
•可設定規則讓介在物自行分類
•產出符合鋼鐵業國際認證的報告
•Ni、Co、Mn粉末檢測分析
•污染物識別並依顆粒導電性標示分類
•有利於研發製程快速發現缺陷、降低生產成本
•環境異物分析
•異物來源調查
•符合零部件潔淨度液壓油報告規範
•監測金屬粉末材料關鍵物性
•可針對每個單一顆粒進行化學分類
•優化積層製造(3D列印)粉床及堆疊製程
全方位一站式服務→節省溝通成本
我們支援電子顯微鏡相關延伸問題，包含前製備機台、環境改善解決方案等
皆有專屬技術團隊可提供協助。
只需對接一個窗口，不再需為各種機台或問題四處洽詢。
"濺鍍、拋光、表面改質、截面切割"
"磁場、震動、噪音、溫/溼度干擾"
對於以上內容有興趣嗎？立即與我們聯絡。
勀傑科技代理美國品牌ThermoFisherScientific的桌上型電子顯微鏡Phenom系列
歡迎預約體驗免費樣品Demo檢測 【名額有限】
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