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【聯合線上研討會】高階自動化瑕疵檢測

Phenom XL桌上型掃描式電子顯微鏡,為針對較大型樣品及大量樣品檢測而開發的專門機型,透過獨家的進階編寫軟體(PPI)所開發出來的「自動化檢測分析功能」,大量縮短了檢測所需的冗長重複性時間。
在過去SEM的檢測液態樣品容易產生團聚現象,導致觀測結果失真。在透過結合創新液態檢測以及高階影像技術,並以AI自動化分類分析,成功突破了SEM液態檢測的難題。

推薦產業:

▲  化材、數位科技、生命與地球科學等…
▲  檢測、品保、學術單位、公家機關或民營事業

聚焦四大核心主軸:

  • Phenom桌上型SEM大樣品專門機亮相
  • 獨家自動化檢測分析功能介紹
  • 大量樣品快速自動化檢測分析實例
  • 新興液態材料檢測解決方案

解決問題即刻報名:

  • 大量樣品檢測與品保
  • 新興材料研發、半導體濕式材料
  • 能源電池臨場觀測

講師簡介

勀傑科技

廖婕妘 Janice

(產品應用課 高階應用工程師)
七年以上資深研發工程經驗,專攻化材領域研發、製程,提供材料分析、評估測試等各項專業技術諮詢;現執掌Phenom 與Technoorg Linda 產品相關技術應用。
邑流微測

林惠姿 Cindy

(市場開發部 副理)
曾任多年SEMI國際半導體產業協會會員服務暨會務拓展經理。善於分析產業趨勢及未來應用。

會議資訊:

  • 參加資格:免費參加
  • 報名方式:事前線上報名制
  • 會議時間:2022.11.9(三) PM 2:00 – 3:30

年末加碼賜福送

活動方式:於2022/11/6 (日) 前完成報名,並準時出席線上會議,即享以下好禮!!!


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