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電子顯微鏡附屬配件

樣品製備處理_樣品桿.樣品台

雙傾斜冷凍真空傳輸TEM樣品桿 LN2 Holder

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

雙傾斜光電場TEM樣品桿

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

原位奈米級拉伸TEM樣品桿

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

多功能三軸TEM樣品桿 HATA Holder

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

雙傾斜探針TEM樣品桿EN Holder

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

Light-Field System LF4-CUBE

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樣品製備處理_電子式製冷SEM/FIB專用冷台

電子式製冷 SEM/FIB  專用冷台

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

SEM原位拉伸/加熱樣品台 In-situ Tensile Stage 1500N

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樣品製備處理_樣品桿.樣品台

EBSD 原位加熱樣品台 Heating Stage 1000℃

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背向散射電子擷取-使用量化背散射電子（qBSE），對材料密度進行映射，並以高空間解析度來描述相位的分佈。

背向散射電子擷取系統 BSE acquisition

使用量化背散射電子（qBSE），對材料密度進行映射，並以高空間解析度來描述相位的分佈。
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STEM電子計數-具有單電子計數功能的掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)低劑量成像設備

STEM電子計數系統 STEM electron counting

具有單電子計數功能的掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)低劑量成像設備
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SEM電性分析-用於 SEM 和 FIB/SEM 電性量化分析的最佳軟體

SEM電性分析系統 Electrical Analysis for SEM

用於 SEM 和 FIB/SEM 電性量化分析的最佳軟體
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