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Phenom Pharos

放大倍率高達2,000,000x
解析度優於 2 nm

Phenom ProX

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Phenom XL

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KCT-agent-technoorg-linda-ion-milling-system-Unimill

TEM離子研磨機 Unimill

具備高低能量兩支離子槍
快速切削和精細拋光功能

KCT-agent-technoorg-linda-ion-milling-system-gentlemill

TEM離子研磨機 Gentle Mill

快速、可靠的TEM 和FIB 樣品清潔和後處理
配置多種樣品台和配件,適用於各種類型的樣本

SEM離子研磨機 SEMPrep2

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適用半導體故障分析和其他分析

主動式消磁器_SC22

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最新消息

員工訓練休假公告

感謝您對於勀傑科技的支持與信賴,為提供您更專業的解決方案與技術支援,

勀傑科技全體同仁將於2021/12/03(五)進行員工教育訓練活動

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應用專欄

分析樣品元素,你需要的是EDS 還是EDX呢?

現今有許多光譜分析技術用於判別樣品的元素組成,其中X射線能量散布分析儀(Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)常用於電子顯微鏡中,而掃描式電子顯微鏡(簡稱 SEM)跟EDS兩者之間的技術密不可分,換句話說,一台完整功能的電子顯微鏡不可或缺EDS功能…

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