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電子訊號整合方案-整合並自動化您的電子顯微系統

電子訊號整合方案 Electronic Signal Integration Solution

使用量化背散射電子(qBSE),對材料密度進行映射,並以高空間解析度來描述相位的分佈。

用於 SEM 和 FIB/SEM 電性量化分析的最佳軟體

奈米級電性的原位成像,深入了解奈米級材料和裝置的行為和特性

具有單電子計數功能的掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)低劑量成像設備

分析材料的電性特性與缺陷,設計簡單易用,性能出色

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