汽車零件潔淨度影響其品質與安全性，隨著電動車興起，產業對於潔淨度(Technical cleanliness)的需求更高。而傳統的潔淨度分析方式為重量量測和光散亂法(使用光學顯微鏡)，僅能提供較大顆粒的重量和形狀資訊，要分辨更全面的污染源訊息效果有限。
Phenom ParticleX TC Desktop SEM擁有全自動潔淨度分析系統，可生產符合汽車產業國際標準認證的報告-VDA 19、ISO 16232。相較於傳統量測分析方式，此套系統可觀測更微小的顆粒(至微米尺寸等級)，並且透過EDS確認其化學成分，如SiO2、Al2O3的影響。
Phenom ParticleX TC Desktop SEM-產品特色
●對混入的異物顆粒進行化學分類，提供有關樣品的生產過程或環境分析資訊 ●提供符合汽車產業潔淨度國際標準認證的報告，包含VDA 19、ISO 16232 ●採用CeB6燈絲源，成像品質穩定、燈絲壽命相較於鎢絲燈更長 ●放大倍率200,000X，影像解析優於10nm ●配備BSD、EDS偵測器 ●配備100mm*100mm大樣品艙，可放置多個樣品或較大型樣品
Phenom ParticleX TC Desktop SEM-全自動潔淨度分析系統
●潔淨度分析應用廣泛：包含汽車零件異物混入、藥學類是否含有害顆粒、機械工業硬質異物、礦物材料業、電子業 ●提供粒徑分佈分析及變化、差異：可檢測出數千顆粒中混合的微量雜質顆粒 ●設定參數可自動化執行：粒度範圍、化學分類規則、特定區域範圍等 ●更快速的潔淨度分析結果：相較委外送檢測需等待約10天，ParticleX TC一天即可取得結果
Phenom系列機台【規格表】
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| 型號 | Pharos G2 | ProX G6 | XL G2 |
| 光學放大倍率 | 20 – 134 x | 20 – 134 x | 3 – 16 x |
| 電子放大倍率 | 200 – 2,000,000 x | 160 – 350,000 x | 160 – 200,000 x |
| 解析度 | SED ≤ 2 nm and BSD ≤ 3 nm | SED ≤ 6 nm and BSD ≤ 8 nm | ≤ 10 nm |
| 加速電壓 | 1kV – 20kV | 4.8kV – 20.5kV | 4.8kV – 20.5kV |
| 真空模式 | 高真空模式 中真空模式 低真空模式 | 高真空模式 低真空模式 | 高真空模式 中真空模式 低真空模式 |
| 偵測器 (部分選配) | BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子 | BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子 | BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子 |
| 樣品尺寸 | 最大可達 32mm | 最大可達 32mm | 範圍最大 100mm x 100mm 可放置36個12mm樣品載台 |
| 樣品高度 | 最高可達 100mm | 最高可達 100mm | 最高至 40 mm |
Phenom系列【樣品台】
Phenom系列【專業分析軟體】
Phenom桌上型電子顯微鏡擁有完整的可擴充性，在SEM的基礎上增加了多種的分析軟體，滿足客戶進階分析的需求
ProSuite 軟體
ProSuite 軟體包能夠使Phenom 電子顯微鏡使用者從拍攝的圖像中獲取大量的訊息，延展了SEM能力，滿足特定用戶的需求。
顆粒統計分析量測系統
顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告，使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。
3D 粗糙度重建系統
3D粗糙度重建系統使Phenom 電子顯微鏡能夠建立樣品3D圖像以及亞微米粗糙度量測。
Phenom 自動化介面 (PPI)
如果用戶想把Phenom電鏡整合或者創建一個客製的解決方案，Phenom自動化介面PPI是必不可少的。PPI可以控制Phenom電鏡的部分功能，包括樣品台、導航相機和影像拍攝…。
孔徑統計分析量測系統
孔徑統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告，使用者能收集詳細的孔徑分布及孔徑參數 (粒徑尺寸、長短軸比…)。
元素分析線面掃描系統
元素分析線面掃描系統是EID軟體中的選配項，能夠顯示出樣品的元素分布情形。使用者可以針對某個點自行設定像素分辨率與擷取時間後進行元素分析。
纖維統計分析量測系統
相對於以往手動量測數值，纖維統計分析量測系統能快速獲得更精確的數值，效率高，操作簡單，更可以測量和分析具有大纖維直徑差異的樣品。