耗材專區

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標準樣品

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SEM專區

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TEM專區

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FIB專區

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MAG*I*CAL可追溯TEM標準校正樣品

這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數,並且適用於所有的穿透式電子顯微鏡(TEM)標準樣品

被動式消磁機

被動地透過不同的電流,來產生反向的磁場,將物件本身帶有的磁場給消除,或是使用強力的磁場進行消除的動作。

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