桌上型掃描式電子顯微鏡|電池顆粒分析|ParticleX Battery SEM

NCM粉末（鎳Ni、鈷Co、錳Mn）是鋰電池的重要成分，有其常見的比例分配。而這些粉末的顆粒大小、化學成分都影響著電池的最終性能；此外，電池粉末中若出現不該存在的污染物(如：銅、鋅、鐵等金屬異物微粒)，任何一個金屬微粒都可能對電池造成災難性後果、甚至影響其使用上的安全性。而找出這些污染物並進行分類，是一項頗具困難的任務。

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM擁有電池顆粒自動分析系統，透過整合EDS功能，使用者可依需求設定閾值，不論是要做鋰電池粉末的NCM顆粒檢測，或是要識別粉末中的金屬異物微粒及分類，都能進行有效分析。

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM-產品特色

●提升研發電池的性能：自動化系統可進行鋰電池材料NCM 粉末分析。
●降低研發電池危險性：自動化系統可進行異物偵測，特別是微小的導電顆粒易使電極短路並引發火災。
●採用CeB6燈絲源，成像品質穩定、燈絲壽命相較於鎢絲燈更長
●放大倍率200,000X，影像解析優於10nm

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM-全自動電池顆粒分析系統

●針對NCM粒子群檢測並自動生成三元圖：將Ni、Co和Mn分別標示在每個軸上，可看出變化趨勢。
●可依粒子導電度標示分類，以更精準評估污染物的影響。(金屬導電性污染比小型有機污染更嚴重)
●高解析度 SEM 成像和 EDS 化學分析，於研發製造過程快速發現缺陷、污染、降低生產成本。

電池產業應用：唯一相容氬氣的SEM、透過SEM分析獲得更好的電池效能

ParticleX Battery 電池顆粒分析電子顯微鏡採用專門技術的機體設計，是唯一可置於手套箱內的SEM。觀看內文🔽

鋰電池材料分析的主要挑戰在於它們在空氣中非常易起反應。在進行固態鋰電池的研發中，樣品的製備和分析過程必須保護樣品，避免其跟環境產生反應。

微型化是新一代電池進步的秘訣，而SEM更是檢驗奈米材料、產品製程改善、失效分析的最佳工具。電池的生產週期非常冗長，並涉及多個生產流程。

鋰電池材料分析全套解決方案：讓樣品從製備到SEM觀測全程空氣隔離

Phenom系列機台【規格表】


型號	Pharos G2	ProX G6	XL G2
光學放大倍率	20 – 134 x	20 – 134 x	3 – 16 x
電子放大倍率	200 – 2,000,000 x	160 – 350,000 x	160 – 200,000 x
解析度	SED ≤ 2 nm and BSD ≤ 3 nm	SED ≤ 6 nm and BSD ≤ 8 nm	≤ 10 nm
加速電壓	1kV – 20kV	4.8kV – 20.5kV	4.8kV – 20.5kV
真空模式	高真空模式中真空模式低真空模式	高真空模式低真空模式	高真空模式中真空模式低真空模式
偵測器 (部分選配)	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子
樣品尺寸	最大可達 32mm	最大可達 32mm	範圍最大 100mm x 100mm 可放置36個12mm樣品載台
樣品高度	最高可達 100mm	最高可達 100mm	最高至 40 mm