桌上型掃描式電子顯微鏡|電池顆粒分析|ParticleX Battery SEM

NCM粉末（鎳Ni、鈷Co、錳Mn）是鋰電池的重要成分，有其常見的比例分配。而這些粉末的顆粒大小、化學成分都影響著電池的最終性能；此外，電池粉末中若出現不該存在的污染物(如：銅、鋅、鐵等金屬異物微粒)，任何一個金屬微粒都可能對電池造成災難性後果、甚至影響其使用上的安全性。而找出這些污染物並進行分類，是一項頗具困難的任務。

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM擁有電池顆粒自動分析系統，透過整合EDS功能，使用者可依需求設定閾值，不論是要做鋰電池粉末的NCM顆粒檢測，或是要識別粉末中的金屬異物微粒及分類，都能進行有效分析。

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM-產品特色

●提升研發電池的性能：自動化系統可進行鋰電池材料NCM 粉末分析。
●降低研發電池危險性：自動化系統可進行異物偵測，特別是微小的導電顆粒易使電極短路並引發火災。
●採用CeB6燈絲源，成像品質穩定、燈絲壽命相較於鎢絲燈更長
●放大倍率200,000X，影像解析優於10nm

Phenom ParticleX Battery Desktop SEM-全自動電池顆粒分析系統

●針對NCM粒子群檢測並自動生成三元圖：將Ni、Co和Mn分別標示在每個軸上，可看出變化趨勢。
●可依粒子導電度標示分類，以更精準評估污染物的影響。(金屬導電性污染比小型有機污染更嚴重)
●高解析度 SEM 成像和 EDS 化學分析，於研發製造過程快速發現缺陷、污染、降低生產成本。

電池產業應用：唯一相容氬氣的SEM、透過SEM分析獲得更好的電池效能

ParticleX Battery 電池顆粒分析電子顯微鏡採用專門技術的機體設計，是唯一可置於手套箱內的SEM。觀看內文🔽

鋰電池材料分析的主要挑戰在於它們在空氣中非常易起反應。在進行固態鋰電池的研發中，樣品的製備和分析過程必須保護樣品，避免其跟環境產生反應。

微型化是新一代電池進步的秘訣，而SEM更是檢驗奈米材料、產品製程改善、失效分析的最佳工具。電池的生產週期非常冗長，並涉及多個生產流程。

電池材料陰極及其前驅物的粒徑分佈和微觀結構對其能量密度和安全性至關重要，SEM被用於製程的品質控制，以識別電池原材料及其中間的品質變化。

石墨是鋰離子電池的關鍵組成，通過優化石墨的形態，可製造具更高能量密度及倍率性能、較低第一次不可逆電容量損失、更長壽命及安全性的陽極。

鋰電池材料分析全套解決方案：讓樣品從製備到SEM觀測全程空氣隔離

Phenom系列機台【規格表】


型號	Pharos G2	ProX G6	XL G2
光學放大倍率	20 – 134 x	20 – 134 x	3 – 16 x
電子放大倍率	200 – 2,000,000 x	160 – 350,000 x	160 – 200,000 x
解析度	SED ≤ 2 nm and BSD ≤ 3 nm	SED ≤ 6 nm and BSD ≤ 8 nm	≤ 10 nm
加速電壓	1kV – 20kV	4.8kV – 20.5kV	4.8kV – 20.5kV
真空模式	高真空模式中真空模式低真空模式	高真空模式低真空模式	高真空模式中真空模式低真空模式
偵測器 (部分選配)	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子	BSD 背向散射電子 EDS/EDX 元素分析 SED 二次電子
樣品尺寸	最大可達 32mm	最大可達 32mm	範圍最大 100mm x 100mm 可放置36個12mm樣品載台
樣品高度	最高可達 100mm (標準高度32mm)	最高可達 100mm (標準高度32mm)	最高至 40 mm