突破電子顯微鏡成像瓶頸—新SC24 Plus全面監控多種環境干擾、消除EMI問題
隨著微電子元件、微控制器時代來臨，半導體製程需要更高倍率的成像品質。然而，來自於外部環境如EMI等眾多干擾容易影響解析度，要釐清是否為設備故障問題往往需要耗費大量時間成本。
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電磁干擾問題
最全面的半導體、實驗室及工業設備消磁選擇：Spicer Consulting電磁干擾解決方案
您也有電磁干擾問題需要解決嗎？眾多消磁器中不知哪一款最適合？Spicer Consulting提供一系列主動式消磁器選擇指引，依不同產業應用層面及場地客製化解決磁場干擾問題。
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