在微觀的研究領域中，Thermo Fisher 持續不斷地針對專業高解析度的桌上型電子顯微鏡 (Phenom Desktop SEM)，開發了多款領先業界的智能檢測分析軟體，為我們帶來快速的高品質檢測成像與研究成果，以及檢測精準度的大幅提升。
在本次會議中，除了最新款設備功能展示外，我們將介紹首次亮相的「全方位顆粒檢測分析」軟體，同時也與您分享實際的成功案例；僅此一次，千萬別再錯過!!!
聚焦三大核心主軸
- Phenom Desktop SEM 大樣品專門機展示
- 獨家自動化檢測分析功能介紹
- 鋼鐵專門分析軟體與實例分享
即刻解決問題
- 化學材料、能源電池、金屬零件、光電材料等
- 新興材料研發、半導體、PCB等相關產業
- 檢測、品保、學術單位、公家機關或民營事業
【會議資訊】
會議時間：2023.03.21(二) PM 02:00 – 03:00
會議形式：線上會議 (Zoom)
參加資格：免費參加
報名方式：事前線上報名制
講師資訊
吳柏緯 (Louis)
高階應用工程師 / 勀傑科技股份有限公司
【研究領域】
材料缺陷分析、雙束型聚焦離子束分析、材料顯微分析、半導體材料穩定度分析、電化學分析、電致變色材料研究、高分子複合材料研究、超級電容器研究。
春季參會加碼送
參加方式：於2023.3.21 (二) 前完成線上報名，並於會議當天準時出席線上會議，即可享以下好康的抽獎機會!!
