【免費網路研討會】Thermo Fisher原廠主講 2021-10-26 2021-11-05 使用桌上型SEM與微粒分析應用 Oct 27, 2021 – Dec 01, 2021 Thermo Scientific Phenom ParticleX 桌上型SEM(掃描式電子顯微鏡)一台多用途的桌上型SEM,專為多種應用而設計 ● 增材製造原料檢測 ● 元件潔淨度檢測 ● 鋼鐵製造介載物分析 ● 電池和儲能應用 ● 槍彈殘留分析 Phenom ParticleX 桌上型 SEM 是一種用於高質量分析的多功能解決方案,能夠對材料進行快速表面形貌觀測、檢測和分類,以快速、準確和可信的數據把關產品品質。操作簡單、學習速度快,使得使用者更廣泛的應用在檢測微粒、材料和故障分析上。從 2021 年 10 月 27 日開始,一週一主題,為期六週。在每一主題中,講師會專注於一個特定的分析應用以及分享 Phenom ParticleX Desktop SEM 如何克服一些最常見的挑戰。 立即報名 【主題與場次說明】 ※ 每個網絡研討會主題將舉行兩個場次 ※ 網絡研討會每個場次為30分鐘,另外有 15 分鐘的問答環節 【主題一】如何使用 SEM+EDS 認證NCM 粉末品質 (How to certify your NCM powder quality with SEM + EDS) 會議日期:2021/10/27第一場時間:9 a.m. CEST(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋夏令時間上午 8 點/美國東部時間上午 11 點(台灣時間23:00) 【主題二】使用電子顯微鏡檢測電子產品的潔淨度 (Electron-microscope-grade cleanliness in electronics) 會議日期:2021/11/3第一場時間:9 a.m. CET(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋夏令時間上午 9 點/美國東部時間下午 12 點(台灣時間2021/11/4 00:00) 【主題三】加速自動彈藥殘留分析GSR (Speed up your automated gunshot residue analysis) 會議日期:2021/11/10第一場時間:9 a.m. CET(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00) 【主題四】為什麼要使用SEM進行潔淨度分析? (Automotive technical cleanliness analysis with a SEM: why?) 會議日期:2021/11/17第一場時間:9 a.m. CET(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00) 【主題五】通過自動介載物分析了解鋼材製造 (Understand your steel with automated inclusion analysis) 會議日期:2021/11/24第一場時間:9 a.m. CET(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00) 【主題六】用於檢測增材製造粉末完整性的設備 (One tool for complete AM powder characterization) 會議日期:2021/12/1第一場時間:9 a.m. CET(台灣時間15: 00)第二場時間:太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00)