使用桌上型SEM與微粒分析應用
Oct 27, 2021 – Dec 01, 2021
Thermo Scientific Phenom ParticleX 桌上型SEM（掃描式電子顯微鏡）
一台多用途的桌上型SEM，專為多種應用而設計
● 增材製造原料檢測
● 元件潔淨度檢測
● 鋼鐵製造介載物分析
● 電池和儲能應用
● 槍彈殘留分析
Phenom ParticleX 桌上型 SEM 是一種用於高質量分析的多功能解決方案，能夠對材料進行快速表面形貌觀測、檢測和分類，以快速、準確和可信的數據把關產品品質。操作簡單、學習速度快，使得使用者更廣泛的應用在檢測微粒、材料和故障分析上。
從 2021 年 10 月 27 日開始，一週一主題，為期六週。在每一主題中，講師會專注於一個特定的分析應用以及分享 Phenom ParticleX Desktop SEM 如何克服一些最常見的挑戰。
【主題與場次說明】
※ 每個網絡研討會主題將舉行兩個場次
※ 網絡研討會每個場次為30分鐘，另外有 15 分鐘的問答環節
會議日期：2021/10/27
第一場時間：9 a.m. CEST(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋夏令時間上午 8 點/美國東部時間上午 11 點(台灣時間23:00)
會議日期：2021/11/3
第一場時間：9 a.m. CET(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋夏令時間上午 9 點/美國東部時間下午 12 點(台灣時間2021/11/4 00:00)
會議日期：2021/11/10
第一場時間：9 a.m. CET(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00)
會議日期：2021/11/17
第一場時間：9 a.m. CET(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00)
會議日期：2021/11/24
第一場時間：9 a.m. CET(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00)
會議日期：2021/12/1
第一場時間：9 a.m. CET(台灣時間15: 00)
第二場時間：太平洋標準時間上午 8 點/美國東部標準時間上午 11 點(台灣時間23:00)
