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XL Sample Holder
標準樣品台 Standard Sample Holder
Phenom XL 的標準樣品杯，可以放置的最大樣品尺寸為 100 mm x 100 mm。搭配專利的樣品載入技術，可以使抽真空的時間降到最短。
五軸共心樣品台 Eucentric Sample Holder
掃描電鏡應用中，如果樣品可以傾斜、旋轉，用戶就可以得到更豐富的形貌特徵。 Phenom XL 的Eucentric sample holder 就是基於此一目的研發而來的，樣品台包含了一個子樣品載台， 使用戶可以輕鬆、安全地從各個角度觀察樣品。
拉伸試驗樣品台 Tensile Sample Holder
拉伸試驗可以知道材料受到拉伸或擠壓時如何發生反應。拉伸試驗是最簡單和最廣泛使用的機械試驗之一，通過測量將樣品拉伸到斷裂點所需的力，可以確定材料性質，這將使操作人員能夠預測材料和產品在其應用中的表現。
金相樣品台 Resin Mount Inserts
金相樣品台具有特殊優勢。樣品夾具可以直接固定樣品，將所有的金相樣品工作距離保持一致，這在進行 X 射線能譜儀（EDS）分析時非常有用。金相樣品表面平整是能譜結果定量的要求，然而樣品的底部卻可能是非常粗糙，甚至傾斜的，不使用金相樣品台固定這些樣品，通常會導致樣品表面不平整，這可能對能譜的定量結果產生精準度的問題。
濾紙樣品 Filter Inserts
用於濾渣殘留分析和石棉分析的濾紙樣品必須牢固且平坦地安裝在SEM 掃描式電鏡中，再進行分析。由於濾紙是精細的樣品材料， 因此安裝這些樣品不使用特殊配件可能導致折疊而造成樣品的損壞。若依照傳統的方式，使用高度粘稠的碳膠固定,將無法使樣品被再次用於分析。Phenom XL 的濾紙樣品台，分為兩種型號，直徑 47mm（1.85“）和 直徑 25mm（1”）兩種尺寸供選擇。
P-Series Sample Holder
標準樣品杯
高解析度樣品杯，每台Phenom電子顯微鏡標準配件。
金相樣品杯
金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同，但中間專門設計用來裝置金相樣品，金相樣品杯可以另外選配兩種配件，更快速製備樣品。
降低荷電效應金相樣品杯
降低荷電效應金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同，但中間專門設計用來裝置金相樣品，降低荷電效應金相樣品杯可以另外選配兩種配件，更快速製備樣品。降低電荷效應金相樣品杯相較於金相樣品杯具有額外的降低荷電功能，更適合觀察不導電樣品。
微型工具樣品杯
使用微型工具樣品杯，無需裁切樣品即可觀察長軸形狀如鑽頭、銑刀和注射針等樣品。無需重新裝載樣品，通過旋轉和傾斜，即可輕鬆觀看塗層和斷面。
自動傾斜旋轉樣品杯
自動傾斜旋轉樣品杯能夠更方便的觀看到樣品的隱藏特徵(如孔洞、多層結構) 並從可見側面做元素分析，同時展現圖特的3D圖像。
溫度控制樣品杯
溫度控制樣品杯特別為了研究真空敏感和易損樣品(如生物、食品或有機塗料…) 研發而成。溫度控制樣品杯能夠控製樣品的溫度，從而影響樣品周圍的濕度， 最大限度的降低電子束的影響和真空對樣品的損壞。基於Peltier原理，其設計可以快速、輕鬆地調節溫度。
STEM樣品杯
適用於 Pharos G2 Desktop SEM 的 STEM 樣品杯(Scanning Transmission Electron Microscopy Sample Holder)，可針對非常薄的樣品進行成像觀測，適用生命科學等研究領域
斷面觀測樣品座配件
使用金相外掛工具觀察塗層和多層樣品的斷面是非常快和方便的，且不需要螺絲和其它工具來固定樣品。
微型電子樣品座配件
微型電子外掛治具適用於半導體、微型電子器件和太陽能電池等。採用獨特的固定機制，樣品裝載時不需要粘合劑和接觸表面。