雙傾斜探針樣品桿EN Holder

  1. 帶針狀樣品的雙傾斜透射電鏡桿
  2. 變換角度時尖端保持在中心位置
  3. 即使在UHR模式也可以進行斷層掃描
KCT-agent-melbuild-TEM-holder-EN-Holder-for-UHR-needle-sample-process
                                    放置樣品到探針上方                                  旋轉專利載台至切拋位置                         進入 FIB 完成樣品

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