顆粒統計分析量測系統(ParticleMetric Software )
顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告，使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。軟體的自動量測功能超越了一般金相顯微鏡的放大倍率，使得粉末設計、研發、品質控管邁入新的高度。
- 可在線或是離線使用軟體分析
- 詳細顆粒的參數(直徑、圓度、長短軸比、凹凸性)
- 藉由自動掃描功能獲得高畫質大面積的圖像數據
- 具備高級運算法，使用者可選擇原始設定或進階設定
顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告，使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。軟體的自動量測功能超越了一般金相顯微鏡的放大倍率，使得粉末設計、研發、品質控管邁入新的高度。