Gentle Mill TEM/FIB樣品離子減薄機

  • 快速、可靠的TEM和FIB樣品清潔和後處理,製備高品質的TEM/XTEM樣本
  • 完全數碼式控制系統-簡單操作,可自定參數,減少因使用者的不同造成的人為差異
  • 配置多種樣品台和配件,適用於各種類的樣本
  • 獨特3D樣品座可直接應用在Hitachi的FIB-STEM/TEM機台

  Technoorg Linda的Gentle Mill具有數碼式控制,易於使用者高效率的得到高品質和無損的樣品,即使是高能量離子減薄儀由來的或FIB前處理的樣品。有以下製備高品質XTEM,HRTEM或STEM樣本需求時建議使用Gentle Mill同時,獨特的精細離子拋光技術可快速減薄,製備凹陷狀,平板,薄片 (< 25 µm)樣本,用於納米結構的研究。

  精細離子減薄儀(Gentle Mill) 擁有獨家專利技術熱陰極低能離子槍,保證了表面無損傷層的最小化和非結晶堆積層的清潔。特殊的離子槍設計擁有高電流密度。包括加速電壓和陰極電流的離子槍所有參數由電腦自動控制到最佳狀態,在拋光過程中也可以進行參數修改,擁有人性化的設計,客戶所需要的各參數可顯示在螢幕上,並且可行切換手動或自動模式。

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