Sample holder

P-Series Accessories

 PROX標準樣品杯standard sample holder

標準樣品杯

高解析度樣品杯,每台Phenom電子顯微鏡標準配件。

 

 

 PROX降低荷電效應樣品杯Charge Reduction Sample Holder

降低荷電效應樣品杯

降低荷電效應樣品杯減少樣品充電,消除非導電樣品的額外樣品製備步驟。

可以快速的觀察如紙張,聚合物,有機材料,陶瓷,玻璃和塗料等樣品成像。

 

 

 PROX金相樣品杯Metallurgical Sample Holder

 

金相樣品杯

金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相

樣品,金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。

 PROX降低荷電效應金相樣品杯charge reduction metallurgical sample holder

 降低荷電效應金相樣品杯

降低荷電效應金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用

來裝置金相樣品,降低荷電效應金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備

樣品。降低電荷效應金相樣品杯相較於金相樣品杯具有額外的降低荷電功能,更適合觀察不導電樣品。

 PROX微型工具樣品杯Micro Tool Sample Holder

 

微型工具樣品杯

使用微型工具樣品杯,無需裁切樣品即可觀察長軸形狀如鑽頭、銑刀和注射針等

樣品。無需重新裝載樣品,通過旋轉和傾斜,即可輕鬆觀看塗層和斷面。

 

 PROX自動傾斜旋轉樣品杯Motorized Tilt Rotation Sample Holder

自動傾斜旋轉樣品杯

自動傾斜旋轉樣品杯能夠更方便的觀看到樣品的隱藏特徵(如孔洞、多層結構)

可見側面做元素分析,同時展現圖特的3D圖像。

 

 PROX控溫樣品杯Temperature Controlled Sample Holder

溫度控制樣品杯

溫度控制樣品杯特別為了研究真空敏感和易損樣品(如生物,食品或有機塗料...)

研發而成。溫度控制樣品杯能夠控製樣品的溫度,從而影響樣品周圍的濕度,

最大限度的降低電子束的影響和真空對樣品的損壞。基於Peltier原理,其設計

可以快速,輕鬆地調節溫度。

ProX斷面觀測X view Insert

斷面觀測樣品座配件

使用金相外掛工具觀察塗層和多層樣品的斷面是非常快和方便的,且

不需要螺絲和其它工具來固定樣品。

ProX微型電子座配件Micro electronics Insert

微型電子樣品座配件

微型電子外掛治具適用於半導體、微型電子器件和太陽能電池等。

用獨特的固定機制,樣品裝載時不需要粘合劑和接觸表面。

XL Accessories

XL標準樣品台standard sample holder 標準樣品台   Standard Sample Holder    

Phenom XL的標準樣品杯,設計緊湊,可以分析的最大樣品尺寸為

100 mm x 100 mm。儘管是大得多的樣品尺寸,專利的樣品載入技

術可以使抽真空的時間降到最短。

                                                                                  
XL五軸共心樣品台Eucentric Sample Holder

五軸共心樣品台   Eucentric Sample Holder

在許多掃描電鏡應用中,如果樣品可以傾斜、旋轉,用戶就可以得到更

豐富的形貌特徵。桌上型掃描電鏡 Phenom XL的Eucentric sample holder

就是基於此一目的研發而來的,樣品杯包含了一個子樣品台,

使用戶可以輕鬆、安全地從各個角度觀察樣品。

XL拉伸樣品杯Tensile Sample Holder

拉伸試驗樣品台   Tensile Sample Holder

拉伸試驗可以知道材料受到拉伸或擠壓時如何發生反應。拉伸試驗是

最簡單和最廣泛使用的機械試驗之一,通過測量將樣品拉伸到斷裂點

所需的力,可以確定材料性質,這將使設計師和品質管制人員能夠預

測材料和產品在其應用中的表現。

XL金相樣品台Resin Mount Inserts 01

金相樣品台   Resin Mount Inserts

金相樣品外掛程式有一些具體的優勢。樣品夾具可以直接固定樣品,所

有的樣品將具有相同的工作距離,這在進行 X射線能譜儀(EDS)分析

時非常有用。金相樣品表面平整是能譜結果定量的要求,然而樣品的底

部卻可能是非常粗糙,甚至傾斜的,不使用金相樣品外掛程式裝載這些

樣品,通常會導致樣品表面不平整,這可能對能譜的定量結果產生不利

的影響。

XL濾紙樣品台Filter Inserts

濾紙樣品   Filter Inserts

經常用於濾渣殘留分析和石棉分析的濾紙樣品必須牢固且平坦地安裝在

掃描電鏡 SEM中,以進行正確的分析。 由於濾紙是精細的樣品材料,

因此安裝這些樣品而不使用外掛程式可能導致折疊和樣品的損壞。使用

傳統的,通常高度粘稠的碳膠,將阻止樣品將來被再次用於分析。 用於

Phenom XL的濾紙樣品,有兩種型號,支援直徑 47mm1.85“)和

直徑 25mm1”)兩種尺寸。

五軸共心樣品台

Eucentric Sample Holder for Phenom XL Desktop SEM

XL五軸共心樣品台Eucentric Sample Holder

在許多掃描電鏡應用中,如果樣品可以傾斜、旋轉,用戶就可以得到更豐富的形貌特徵。Phenom XL Desktop SEM的Eucentric sample holder就是基於此目的來研發而來,樣品杯包含了一個子樣品台,使用戶可以輕鬆、安全地從各個角度觀察樣品。

 

主要特點:

  1. 桌面SEM上的共心傾斜和同心旋轉
  2. 樣品加載時間<1分鐘,可快速成像
  3. 樣品實時3D可視化模型
  4. 傾斜角度可達90˚
  5. 一體成形防撞安全機制

 

XL五軸共心樣品台Eucentric Sample Holder02   XL五軸共心樣品台Eucentric Sample Holder03   XL五軸共心樣品台Eucentric Sample Holder04

微型工具樣品杯

Micro Tool Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX微型工具樣品杯Micro Tool Sample Holder

 

使用微型工具樣品杯,無需裁切樣品即可觀察長軸形狀如鑽頭、銑刀和注射針等樣品。

無需重新裝載樣品,通過旋轉和傾斜,即可輕鬆觀看塗層和斷面。

 

主要特點:

1. 快速固定

2. 透過旋轉及傾斜使樣品容易定位

3. 不需要加裝額外工具

4. 不需要裁切樣品

微型電子樣品座配件

Micro-electronics Insert for Phenom Desktop P-series SEM

ProX微型電子座配件Micro electronics Insert02

 

搭配金相樣品台使用,微型電子樣品座適用於半導體、微型電子器件和太陽能電池等樣品,用獨特的固定機制,樣品裝載時不需要粘合劑和接觸表面。

 

主要特點:

1. 不會損傷及汙染樣品

2. 即時製樣及裝載

拉伸試驗樣品台

Tensile Sample Holder for Phenom XL Desktop SEM

XL拉伸樣品杯Tensile Sample Holder

拉伸試驗可以知道當施加張力時材料受到拉伸或擠壓時如何發生反應。拉伸試驗是最簡單和最廣泛使用的機械試驗之一,通過測量將樣品拉伸到斷裂點所需的力,可以確定材料性質,這將使設計人員和品質管制人員能夠預測材料和產品在其應用中的表現。

 

主要特點:

  1. 檢查同批產品質量
  2. 確認生產一致性
  3. 設計過程中協助確認品質
  4. 降低材料成本,實現精益製造目標
  5. 確保符合國際和行業標準

 

 

斷面觀測樣品座配件

X-view Insert for Phenom Desktop P-series SEM

ProX斷面觀測X view Insert02

搭配金相樣品台使用,觀察塗層和多層樣品的斷面非常快速和方便,且不需要螺絲和其它工具來固定樣品。

 

主要特點:

容易固定,不需要螺絲及其他工具台固定樣品

 

 

標準樣品台

Standard Sample Holder for Phenom XL Desktop SEM

XL標準樣品台standard sample holder

Phenom XL Desktop SEM的標準樣品台,設計緊湊,可以分析的最大樣品尺寸為100 mm x 100 mm。

儘管樣品尺寸較大,但專利的樣品裝載技術可使抽真空的時間降至最短。

 

鑲埋、切割和拋光是製備表面平整樣品,用於電子顯微鏡觀測的常用技術。通常樣品埋入樹脂中,具有一定的標準尺寸。Phenom XL的標準樣品台可以擴展3種樹脂鑲埋插件,使得樣品台可以容納最常見尺寸的金相樣品。

 

樣品尺寸

100 mm x 100 mm(最大可放 36 個 12 mm樣品座)

樣品高度:最大至 65mm

 

    XL標準樣品台standard sample holder02     XL標準樣品台standard sample holder03     XL標準樣品台standard sample holder04

 

標準樣品杯

Standard Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX標準樣品杯standard sample holder

高解析度樣品杯,每台Phenom電子顯微鏡標準配件。

 

樣品尺寸

最大直徑25mm,高度30mm

 

溫度控制樣品杯

Temperature Controlled Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX控溫樣品杯Temperature Controlled Sample Holder

 

溫度控制樣品杯特別為了研究真空敏感和易損樣品(如生物,食品或有機塗料...)研發而成。溫度控制樣品杯能夠控製樣品的溫度,從而影響樣品周圍的濕度,最大限度的降低電子束的影響和真空對樣品的損壞。基於Peltier原理,其設計可以快速,輕鬆地調節溫度。

 

主要特點:

1. 溫度範圍:-25°C至+ 50°C

2. 精確度:±1.5°C

3. 溫度分辨率:0.1°C

4. 最高冷卻速度:20°C / min

5. 樣品尺寸最大直徑 25 mm,高度 5 mm

濾紙樣品座配件

Filter Inserts for Phenom XL Desktop SEM

XL濾紙樣品台Filter Inserts02XL濾紙樣品台Filter Inserts

經常用於濾渣殘留分析和石棉分析的濾紙樣品必須牢固且平坦地安裝在掃描電鏡 SEM 中,以進行正確的分析。 由於濾紙是精細的樣品材料,因此安裝這些樣品而不使用專用樣品座可能導致折疊和樣品的損壞。若使用高度粘稠的碳膠的傳統方法,將使得樣品無法被再次用於分析。 

Phenom XL 的濾紙樣品座配件,有兩種型號,支援直徑 47mm(1.85英吋)和直徑 25mm(1英寸)兩種尺寸。

 

樣品尺寸

直徑為9x 25mm(1英吋)的樣品

直徑為4x 47mm(1.85英寸)的樣品

自動傾斜旋轉樣品杯

Motorized Tilt Rotation Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX自動傾斜旋轉樣品杯Motorized Tilt Rotation Sample Holder

自動傾斜旋轉樣品杯能夠更方便的觀看到樣品的隱藏特徵(如孔洞、多層結構),並從可見側面做元素分析,同時展現圖特的3D圖像。

 

主要特點:

1. 傾斜角度:-10°至+ 45°

2. 旋轉角度:360°同心旋轉

3. 使用Pro Suite應用程式控制

金相樣品座配件

Resin Mount Inserts for Phenom XL Desktop SEM

XL金相樣品台Resin Mount Inserts 03XL金相樣品台Resin Mount Inserts 01XL金相樣品台Resin Mount Inserts 02

 

金相樣品座有一些具體的優勢。樣品夾具可以直接固定樣品,所有的樣品將具有相同的工作距離,在進行 X 射線能譜儀(EDS)分析時非常有用。金相樣品表面平整是能譜結果定量的要求,然而樣品的底部卻可能是非常粗糙,甚至傾斜的,若不使用金相樣品座裝載這些樣品,通常會導致樣品表面不平整,這可能對能譜的定量結果產生不利的影響。

 

透過使用金相樣品座,金相樣品底部不會接觸樣品台的表面。金相樣品的頂部將被完美地夾在金相座內部的相同高度,從而同時實現高分辨率成像和EDS分析。樹脂安裝樣品插件有3種型號,可支持25mm(~1英寸),32mm(~1.25英寸)和40mm(~1.5英寸)直徑的標準尺寸樣品。

 

樣品尺寸

根據樣品尺寸要求,有3種類型的金相樣品座可供選擇

直徑為 4 x 40mm(1.5英吋)的樣品,最大高度為25mm

直徑為 6 x 32mm(1.25英寸)的樣品,最大高度為25mm

直徑為 9 x 25mm(1英寸)的樣品,最大高度25mm

金相樣品杯

Metallurgical Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX金相樣品杯Metallurgical Sample Holder

 

金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相樣品,金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。

 

樣品尺寸:

最大直徑32mm,高度30mm

降低荷電效應樣品杯

Charge Reduction Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX降低荷電效應樣品杯Charge Reduction Sample Holder

 

降低荷電效應樣品杯減少樣品充電,消除非導電樣品的額外樣品製備步驟。

可以快速的觀察如紙張,聚合物,有機材料,陶瓷,玻璃和塗料等樣品成像。

 

主要特點:

1. 比標準樣品杯多出8倍的放大倍率

2. 樣品不需要額外鍍金/鍍碳,大幅降低額外設備的需求與制備時間

3. 能在原始狀態下觀察樣品,提供豐富的背散射訊息

降低荷電效應金相樣品杯

Charge Reduction Metallurgical Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX降低荷電效應金相樣品杯charge reduction metallurgical sample holder

 

降低荷電效應金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相樣品,降低荷電效應金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。降低電荷效應金相樣品杯相較於金相樣品杯具有額外的降低荷電功能,更適合觀察不導電樣品。

 

主要特點:

1. 比標準樣品杯多出8倍的放大倍率

2. 樣品不需要額外鍍金/鍍碳,大幅降低額外設備的需求與制備時間

3. 能在原始狀態下觀察樣品,提供豐富的背散射訊息

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