多年來，掃描式電子顯微鏡（英語：Scanning Electron Microscope，縮寫為SEM）已成為品質管理的重要工具。 許多行業用SEM來分析在微觀層面上的缺點和雜質，他們可以藉由分析結果來調整生產過程，以確保每種產品在製造上都能符合相同的高品質標準。
儘管SEM在這個過程中非常重要，但以往研究人員被要求執行重複性的步驟來分析每個物件，著實浪費寶貴的時間，也拉長生產過程的週期和增加人為錯誤的風險。
新的自動化解決方案可以幫助我們克服這些問題。Phenom XL G2 SEM桌上型電子顯微鏡解決了使用者內部品質管理的問題，把自動化帶入了繁複的工作流程中。 無論客戶需要客製化系統還是一般標準系統，新推出的大樣品艙電子顯微鏡XL G2讓自動化提升到一個新的高度，它提供了快速、準確的訊息，以減少生產過程中所發生的錯誤，保持生產流程的流暢。
使用Phenom XL G2 SEM大樣品艙電子顯微鏡，讓使用者可以在40秒內獲得高品質的圖像，這是比市面上其他桌上型電子顯微鏡運作時間整整快了三倍的時間。Phenom XL G2 SEM大樣品艙電子顯微鏡實現了優於10nm的解析度，且能夠分析100 x 100mm的大型樣品。直覺式的操作介面設計，讓使用者更方便操作。
Phenom大樣品艙電鏡重要的特點是它易於操作的使用者操作界面（UI）。 更直覺式的UI介面將之前用於觀看圖像和進行元素分析的螢幕兩者結合在一起，成為一個全屏圖像，為使用者提供了評估品質所需的即時訊息。如果研究人員發現樣品有疑似雜質的存在，只須點擊一下該位置，立即可以使用能量色散X射線（EDS）分析所存在的元素。使用者處於SEM模式時也有光學模式視窗可以觀看整個樣品。
Phenom大樣品艙顯微鏡的體積小巧，不需佔用實驗室太多的空間，也無需進行昂貴的設備翻新。使用者能將它安置在任何需要使用的地方，無論是在實驗室中還是在生產線上進行即時的分析。
使用Phenom XL G2 SEM大樣品艙電子顯微鏡，在品質管理上，自動化的操作能節省反覆分析顆粒，孔隙，纖維和SEM圖像的工作流程來。得到更準確、更有效率的分析結果，更多時間做其他有價值工作內容，並確保提供最優質的產品給客戶。
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