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應用專欄

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電子元件的特性和應用範圍

高性能過濾的關鍵在於合成纖維的發展,為了最佳化過濾器的設計,纖維直徑、密度和表面形態等特徵都需要被優化。傳統的纖維分析方法難以勝任這類多型態的分析需求,掃描式電子顯微鏡 (SEM)提供卓越的解析度,能同時自動分析多根纖維。

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實驗室中的噪音:理解問題並找到解決方法

實驗室噪音來源包含從空調設備等日常設備到使用中的機械等更複雜來源。噪音可能對實驗的準確性產生不利影響,導致錯誤的結果。透過適當的設備隔離和維護可以創造一個安全、安靜的實驗室環境。勀傑科技提供防噪解決方案——Herzan電鏡隔音箱採用不繡鋼外殼和支架設計

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主動隔振台與被動隔振台有何差異

隔振台廣泛應用於電子顯微鏡、半導體以及顯示器製造等各類產業。為了減少環境振動對設備性能的影響,瞭解主動隔振台與被動隔振台的差異至關重要。被動隔振台利用彈簧和阻尼器的自然特性來減少振動;而主動隔振台則使用帶有集成傳感器和執行器的控制系統,實現對低頻振動更為有效的控制。

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【金屬材料研究】從大面積表面形貌到夾雜物與沉澱物的SEM分析

要有效生產金屬就需要對夾雜物和沉澱物進行精確控制。這些物質或許是具有可增加材料強度的作用,也可能僅能被當成雜質。根據其一致性和分佈情況,極大地影響品質和使用壽命。Phenom SEM可執行的金屬材料分析重點,包括:微奈米顆粒計數、使用能量色散 X 射線光譜進行高通量化學分析。

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直流磁場干擾對電子顯微鏡和電子束光刻設備的影響

在電子顯微鏡或電子束光刻設備附近,直流磁場強度的變化可能降低影像品質(如:導致影像失真、模糊或漂移)並影響生產效率。直流磁場變化的常見來源包括電梯、火車、卡車和金屬門。針對這些直流磁場干擾問題的解決方法,通常依據每個實驗室的設計和設備配置的不同而有所調整。

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探索冰島火山洞穴:用SEM揭示生命起源之謎

Miltenburg 參加了一次探險活動:前往新形成的熔岩洞。他的任務是運輸、安裝和監控Phenom XL G2,這款方便攜帶的掃描式電子顯微鏡(SEM)對此次任務影響深遠,它能使科學家從洞穴牆壁上取樣在幾分鐘內,就可對高度不穩定的礦物質和微生物進行微觀樣品檢查。

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使用SEM進行缺陷分析以優化瓷磚製程

瓷磚在生產過程結束時,會進行缺陷分析去剔除有缺陷的瓷磚,然而,這是一個成本高昂的程序。瓷磚上有微小且不平整的表層是常見的問題,SEM不僅能進行奈米級成像,還提供了化學組成資訊,可用於調查成分中是否含有異常物質、某種物質是否過量或濃度是否不符合規範,對於產品品質控管至關重要。

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