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應用專欄

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SEM與EDS全新整合的技術-大幅提升材料分析效率

ChemiSEM技術透過將SEM和EDS功能完全整合到統一的使用者介面中,徹底改變並簡化了傳統EDS分析。同時,透過大數據方法識別單元,以找到微小元素和微量元素,並更客觀的判斷和減少錯誤。即使在存在多個重疊元素的情況下,也能實現精確的定量。大幅提升材料分析效率。

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使用桌上型SEM讓高分子材料分析變得更簡單

常見的合成高分子材料包括合成橡膠、酚醛樹脂、氯丁橡膠、尼龍、聚氯乙烯、聚苯乙烯、聚乙烯、聚丙烯、矽膠等。在SABIC,我們使用掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察高分子泡沫或粉末的泡孔結構,進行影像分析以及高分子共混物的分散研究,進而優化產品與製程。

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掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)的技術及應用

掃描穿透式電子顯微鏡STEM 技術是在 TEM 的基礎上發展而來,可在保持高透射解析度的同時掃描樣品表面,以提供更多的表面和成分資訊。在材料科學上依靠不同的影像模式,研究者可以對微結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域,如組織病理學的研究,能利用低電壓 來避免對樣品的損傷。Phenom 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中應用,為使用相關技術的科研人員提供強大支持工具。

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如何避免SEM電子束所造成之樣品損壞?

使用掃描式電子顯微鏡時,隨著觀測樣品時間越久,電子束可能會永久性地改變或降解正在觀察的樣品。樣品降解是一種有害的影響,因為會改變(甚至破壞)想要看到的樣品細節,進而影響檢測結果,此類影響稱之為電子束損壞。

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磁場屏蔽技術推進半導體微型元件研發製程

磁場屏蔽技術對於半導體製程頗具重要性。半導體產業不斷投入微型元件的研發,其工廠通常採用吊頂式單軌系統,以在站點之間運輸組件以進行自動裝載和加工,這些高架系統通常會產生9 kHz的磁場,這對成像品質產生極大負面影響,必須將其消除以提高解析度,恢復電子顯微鏡原有的效能。

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透過自動化SEM分析 加速電池材料陰極的品質控制

電池材料陰極及其前驅物的粒徑分佈和微觀結構對其能量密度和安全性至關重要,在生產過程中需要嚴格監控這些電池材料粒子的品質。掃描式電子顯微鏡被用於製造過程的品質控制,以識別電池原材料及其中間產品的品質變化。本篇應用說明透過SEM自動化分析NCM陰極及其前驅物,以提高工廠生產效率。

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需要潔淨度分析的真正原因與解決方案

為了確保高品質的零件,最常見的檢查方式之一是潔淨度分析。以往對於潔淨度通常使用兩種方式:重量污染物分析的「重量法」和計算顆粒數量的「光學法」。 隨著SEM 和EDS 技術的引入,現在能夠調查更小顆粒的存在,以及區分高硬度的顆粒。

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