離子束拋光技術屬於非接觸式，是將氣體分子轉換成離子再匯聚成束，直接將離子束打到樣品。對準拋光位置後樣品會慢慢地去除表面的應力破壞層或是拜爾比層，能透過調整能量與時間精準拋光樣品，看到樣品最真實樣貌與材料晶格。常見儀器為離子研磨機（ion milling）與聚焦離子束系統(FIB)。
瓷磚在生產過程結束時，會進行缺陷分析去剔除有缺陷的瓷磚，然而，這是一個成本高昂的程序。瓷磚上有微小且不平整的表層是常見的問題，SEM不僅能進行奈米級成像，還提供了化學組成資訊，可用於調查成分中是否含有異常物質、某種物質是否過量或濃度是否不符合規範，對於產品品質控管至關重要。
催化劑涉及超過80% 以上的成品的加工，是現代工業的重要製程。多功能奈米粒子催化研究對現代環保製程、汽車觸媒轉換器皆具重要性。掃描透射電子顯微鏡 (S/TEM)能量色散 X 射線光譜 (EDS) 結合已被證明是直接觀察和量化這些資訊的重要研究工具。
ChemiSEM技術透過將SEM和EDS功能完全整合到統一的使用者介面中，徹底改變並簡化了傳統EDS分析。同時，透過大數據方法識別單元，以找到微小元素和微量元素，並更客觀的判斷和減少錯誤。即使在存在多個重疊元素的情況下，也能實現精確的定量。大幅提升材料分析效率。
SEM的成像原理是電子訊號源產生電子後，並與樣品表面產生交互作用，若是遇到不導電或是導電性差的樣品就會產生電荷效應，解決的方式包含：濺鍍 (Sputter coating)，在樣品表面濺鍍一層薄薄的導電性材料，或是使用低真空模式、導電膠帶等方法。
電漿表面處理可以對樣品表面進行改質或是清洗樣品，用途廣泛，可以有效運用在汽車、紡織、醫療，甚至是實驗室等產業，是非常實用又精細的技術！本篇文章將詳細說明電漿表面處理的原理和用途，幫助大家更加了解這項神秘的技術！
穿透式電子顯微鏡(TEM)中使用的載網(grid，支撐網，或以常用規格鍍碳銅網代稱)，為特殊結構，非常薄，通常在10到100奈米之間，主要用於支撐樣品，使電子能穿透樣品，並幫助樣品定位，同時減少不需要的背景信號。載網有多種圖案和材質可供選擇，其上也可加上不同薄膜/塗層，以適合各種應用。
在Spectra 300 TEM上安裝了2X SC24主動雙消磁系統後，外部干擾已經明顯改善。透過四顆磁場探頭所取得的資料，可見在高度3公尺至0.5公尺範圍內不論是X、Y、 Z方向其數值皆低於20nT。故Spectra 300 TEM可不受磁場干擾影響，而能以最高倍率運作、取得高品質影像。
掃描穿透式電子顯微鏡STEM 技術是在 TEM 的基礎上發展而來，可在保持高透射解析度的同時掃描樣品表面，以提供更多的表面和成分資訊。在材料科學上依靠不同的影像模式，研究者可以對微結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域，如組織病理學的研究，能利用低電壓 來避免對樣品的損傷。Phenom 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中應用，為使用相關技術的科研人員提供強大支持工具。
智能檢測儀SC11、SC28挾帶其優勢已成為國內外科技大廠所使用，用於測量包含CD-SEM、EBL或其它半導體設備的環境參數以確保符合規定。多功能整合的智能軟體滿足：磁場強度測試、震動三軸測量、聲音分貝檢測，當下即可看測量的參數變化。
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