SEM EDS

瓷磚在生產過程結束時，會進行缺陷分析去剔除有缺陷的瓷磚，然而，這是一個成本高昂的程序。瓷磚上有微小且不平整的表層是常見的問題，SEM不僅能進行奈米級成像，還提供了化學組成資訊，可用於調查成分中是否含有異常物質、某種物質是否過量或濃度是否不符合規範，對於產品品質控管至關重要。

ChemiSEM技術透過將SEM和EDS功能完全整合到統一的使用者介面中，徹底改變並簡化了傳統EDS分析。同時，透過大數據方法識別單元，以找到微小元素和微量元素，並更客觀的判斷和減少錯誤。即使在存在多個重疊元素的情況下，也能實現精確的定量。大幅提升材料分析效率。