使用電漿機進行引線接合、覆晶接合封裝前的清潔
為了實現可靠的晶片封裝，所有內部接口的表面必須清潔，以保證良好的附著力。透過電漿清洗機可去除表面上的有機物、氧化物和氟化物污染物，促進引線接合和晶片封裝更好的界面黏合力，減少焊盤不黏、接合翹起和底部填充空洞問題。
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使用SEM進行纖維材料分析 – 快速、簡單且有效率
高性能過濾的關鍵在於合成纖維的發展，為了最佳化過濾器的設計，纖維直徑、密度和表面形態等特徵都需要被優化。傳統的纖維分析方法難以勝任這類多型態的分析需求，掃描式電子顯微鏡 (SEM)提供卓越的解析度，能同時自動分析多根纖維。
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實驗室中的噪音：理解問題並找到解決方法
實驗室噪音來源包含從空調設備等日常設備到使用中的機械等更複雜來源。噪音可能對實驗的準確性產生不利影響，導致錯誤的結果。透過適當的設備隔離和維護可以創造一個安全、安靜的實驗室環境。勀傑科技提供防噪解決方案——Herzan電鏡隔音箱採用不繡鋼外殼和支架設計
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主動隔振台與被動隔振台有何差異
隔振台廣泛應用於電子顯微鏡、半導體以及顯示器製造等各類產業。為了減少環境振動對設備性能的影響，瞭解主動隔振台與被動隔振台的差異至關重要。被動隔振台利用彈簧和阻尼器的自然特性來減少振動；而主動隔振台則使用帶有集成傳感器和執行器的控制系統，實現對低頻振動更為有效的控制。
直流磁場干擾對電子顯微鏡和電子束光刻設備的影響
在電子顯微鏡或電子束光刻設備附近，直流磁場強度的變化可能降低影像品質（如：導致影像失真、模糊或漂移）並影響生產效率。直流磁場變化的常見來源包括電梯、火車、卡車和金屬門。針對這些直流磁場干擾問題的解決方法，通常依據每個實驗室的設計和設備配置的不同而有所調整。
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磁場干擾EMI：瞭解並減輕交流和直流磁場
直流(DC)和交流(AC)磁場會產生磁場干擾，從而降低電子顯微鏡和電子束微影設備的性能，可以同時處理直流和交流的主動消磁系統是最簡單且具成本效益的解決方案。本篇將將說明什麼是直流磁場和交流磁場，以及磁場干擾如何影響各實驗室的設備。
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使用桌上型SEM讓高分子材料分析變得更簡單
常見的合成高分子材料包括合成橡膠、酚醛樹脂、氯丁橡膠、尼龍、聚氯乙烯、聚苯乙烯、聚乙烯、聚丙烯、矽膠等。在SABIC，我們使用掃描式電子顯微鏡(SEM)來觀察高分子泡沫或粉末的泡孔結構，進行影像分析以及高分子共混物的分散研究，進而優化產品與製程。
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探索冰島火山洞穴：用SEM揭示生命起源之謎
Miltenburg 參加了一次探險活動：前往新形成的熔岩洞。他的任務是運輸、安裝和監控Phenom XL G2，這款方便攜帶的掃描式電子顯微鏡(SEM)對此次任務影響深遠，它能使科學家從洞穴牆壁上取樣在幾分鐘內，就可對高度不穩定的礦物質和微生物進行微觀樣品檢查。
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【金屬材料研究】從大面積表面形貌到夾雜物與沉澱物的SEM分析
要有效生產金屬就需要對夾雜物和沉澱物進行精確控制。這些物質或許是具有可增加材料強度的作用，也可能僅能被當成雜質。根據其一致性和分佈情況，極大地影響品質和使用壽命。Phenom SEM可執行的金屬材料分析重點，包括：微奈米顆粒計數、使用能量色散 X 射線光譜進行高通量化學分析。
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離子束拋光技術：揭露樣品原貌
離子束拋光技術屬於非接觸式，是將氣體分子轉換成離子再匯聚成束，直接將離子束打到樣品。對準拋光位置後樣品會慢慢地去除表面的應力破壞層或是拜爾比層，能透過調整能量與時間精準拋光樣品，看到樣品最真實樣貌與材料晶格。常見儀器為離子研磨機（ion milling）與聚焦離子束系統(FIB)。
