
用電子觀測:解析穿透式電子顯微鏡構造
穿透式電子顯微鏡(Transmission electron microscopes, TEMs) 隨著新一代的自動化系統、簡易操作的軟體介面與放置儀器的空間減少而越容易使用,但對於從未使用過穿透式電子顯微鏡的初學者來說仍會怯步。然而在他們學習操作時可能會訝異…
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您正在考慮一台桌上型掃描式電子顯微鏡(SEM)嗎? 如果是的話,選擇符合您需求的燈絲源非常重要,因為不同的燈絲源會直接影響影像輸出品質…
進入300mm晶圓廠中不難發現,當晶圓運輸天車在運作過程中,將會產生9 kHz的磁場干擾,嚴重影響周遭電子束檢測設備的性能,成為提升半導體CD節點技術的阻礙之一…
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