掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)的技術及應用

穿透式電子顯微鏡 (TEM) 和掃描穿透式電子顯微鏡 (STEM) 是奈米科學和材料科學領域中的關鍵成像技術。在近年的發展中，Phenom Pharos G2 的 STEM sample holder 進一步將高解析度成像的便利性帶入了實驗室與工業應用中。

TEM 與 STEM 技術概述

TEM 是藉由電子束穿透樣品來得到電子影像。它特別適合觀察樣品的內部結構，特別是在分子或原子尺度上。STEM 則是在 TEM 的基礎上發展而來，它可以在保持 TEM 的高透射解析度的同時掃描樣品表面，以提供更多的表面和成分資訊。

Phenom Pharos G2 STEM Sample holder 的特點

Phenom Pharos G2 的 STEM Sample holder 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中。具有以下特點：

•全 UI 整合：提供用戶友善的操作界面，迅速從傳統 SEM 模式切換到 STEM 模式。

•多模式相容：支持 BF（明場）、DF（暗場）以及 HAADF（高角度環形暗場）影像模式，適應不同的實驗需求。

•快速樣品裝載與交換：特殊設計的樣品載台可以快速安裝或替換樣品，加快實驗進程。

•低電壓運行優勢：能夠在低加速電壓下工作，適用於光敏感或容易受損的材料樣品。

掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)應用分析

STEM sample holder 的設計使得 Phenom Pharos G2 在奈米材料與生物樣品的詳細分析上扮演了非常重要的角色。在材料科學上，依靠不同的影像模式，研究者可以對材料的微觀結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域，如組織病理學的研究，可以利用低電壓 (20kv) STEM 來避免對樣品的損傷，同時獲得高解析度的圖像。

由於 EDS 偵測器的整合進一步豐富了 Phenom Pharos G2 的應用範圍。研究者無需改變樣品工作距離即可進行元素分析，這在材料合成、表面處理、污染分析等方面特別有用。

結論

Phenom Pharos G2提供的STEM sample holder，透過其多功能性、便捷性以及高度的整合性，為使用 TEM 和 STEM 技術的科研人員提供了強大的支持工具。這種桌上型（Desktop）FESEM 的設備，既可以快速提供豐富和精確的微觀結構資訊，也為各種材料的研究與開發提供了必要的高解析度成像功能。

在未來，隨著這類裝置應用的進一步普及化和技術的不斷進步，其將在材料科學和生物科學領域的研究中提供越來越重要的應用。