掃描穿透式電子顯微鏡

掃描穿透式電子顯微鏡STEM 技術是在 TEM 的基礎上發展而來，可在保持高透射解析度的同時掃描樣品表面，以提供更多的表面和成分資訊。在材料科學上依靠不同的影像模式，研究者可以對微結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域，如組織病理學的研究，能利用低電壓 來避免對樣品的損傷。Phenom 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中應用，為使用相關技術的科研人員提供強大支持工具。