透過電子顯微鏡與光譜分析提升電池領域的研究
從行動裝置到可乘載的交通工具中,電池的出現,對我們日常生活顯得非常重要。研發人員致力於透過高效率電動汽車以及再生能源,來改善對地球的影響;因此,嶄新及進步的電池技術將…
從行動裝置到可乘載的交通工具中,電池的出現,對我們日常生活顯得非常重要。研發人員致力於透過高效率電動汽車以及再生能源,來改善對地球的影響;因此,嶄新及進步的電池技術將…
掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,簡稱:SEM)觀測藥物,可以描繪出API及賦形劑的表面特徵與形貌,以了解以了解兩者間的吸附程度;如果API中含有化學元素,也能使用能量散射圖譜(EDS)來研究…
在半導體製程中,無論是哪個階段,都有可能在操作過程中,因為設備內在、外在的環境因素變化,而對設備、樣品造成或產生各種汙損及侵蝕;當類似狀況發生時,我們可以透過…
透過掃描式電子顯微鏡(SEM)可以分析關於電池的結構以及化學組成。微型化是新一代電池進步的秘訣,SEM是檢驗奈米材料、產品製程改善、失效分析的最佳工具,以下將…
現今有許多光譜分析技術用於判別樣品的元素組成,其中X射線能量散布分析儀(Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)常用於電子顯微鏡中,而掃描式電子顯微鏡(簡稱 SEM)跟EDS兩者之間的技術密不可分,換句話說,一台完整功能的電子顯微鏡不可或缺EDS功能…
對於不同的燈絲源,就性能來說,場發射(FEG)燈絲源生成的高解析圖像最為出色,但是它要求的真空度很高,需要高價的真空設計。因此,對於倍率不需要那麼高的使用者來說,就會更注重能夠以較低成本生成高質量的圖像。這就是為什麼您經常看到鎢燈絲和CeB6燈絲在桌上型電子顯微鏡供應商提供的規格表中。而燈絲的成本效益與它的使用壽命和機台日常維護有關。
在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。
掃描式電子顯微鏡(SEM)的成像原理是電子訊號源產生電子後與樣品表面產生交互作用,再由偵測器接收不同類型電子(像是背向散射電子或二次電子)進行成像。具導電性樣品可導出交互作用於樣品表面的電子,若是…
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