
突破電子顯微鏡成像瓶頸—新SC24 Plus全面監控多種環境干擾、消除EMI問題
隨著微電子元件、微控制器時代來臨,半導體製程需要更高倍率的成像品質。然而,來自於外部環境如EMI等眾多干擾容易影響解析度,要釐清是否為設備故障問題往往需要耗費大量時間成本。
隨著微電子元件、微控制器時代來臨,半導體製程需要更高倍率的成像品質。然而,來自於外部環境如EMI等眾多干擾容易影響解析度,要釐清是否為設備故障問題往往需要耗費大量時間成本。
您也有電磁干擾問題需要解決嗎?眾多消磁器中不知哪一款最適合?Spicer Consulting提供一系列主動式消磁器選擇指引,依不同產業應用層面及場地客製化解決磁場干擾問題。
位於捷克的利貝雷茨技術大學不織布和奈米纖維材料系,在靜電紡絲技術方面擁有超過 6 年的經驗,在其他不織布技術方面,也同樣累積了超過40 年以上的經驗。在豐富經驗累積的條件下,該單位目前已經能…
科技的躍進時代下,樣品觀測不再受光波的波長所局限,電子顯微鏡的發明突破了光學顯微鏡的解析度瓶頸,造就了探索與開啟奈米世界的鑰匙,而粉末微粒便是奈米世界中的小巨人,微小的顆粒卻能影響甚至改變各種物質的變化,其影響領域不只侷限在工業領域(高分子材料),近年來以奈米科技延伸發展…
光學顯微鏡的解析度受限於光的波長,為了獲得更精細的影像,科學家利用電子製造了電子顯微鏡。電子顯微鏡的解析度是光學顯微鏡的1,000倍之多,甚至達到奈米等級。電子顯微鏡主要分為SEM及TEM兩種。前者藉由…
穿透式電子顯微鏡(TEM)中使用的載網(grid,支撐網,或以常用規格鍍碳銅網代稱),為特殊結構,非常薄,通常在10到100奈米之間,主要用於支撐樣品,使電子能穿透樣品,並幫助樣品定位,同時減少不需要的背景信號。載網有多種圖案和材質可供選擇,其上也可加上不同薄膜/塗層,以適合各種應用。
什麼是場發射電子顯微鏡(FE-SEM)?FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡(SEM)有什麼不同?本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源,並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別,勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔!
電子顯微鏡已經成為檢測各種材料上的有力工具,多功能性和高解析度使其成為許多應用中非常有價值的工具。其中又可分為穿透式電子顯微鏡和掃描式電子顯微鏡。穿透式電子顯微鏡(TEM)可為用戶提供更高的解析能力和多功能性,但卻比掃描式電子顯微鏡(SEM)更昂貴且佔地空間更大。
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