什麼是場發射電子顯微鏡（FE-SEM）？FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡（SEM）有什麼不同？本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源，並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別，勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔！

電子顯微鏡已經成為檢測各種材料上的有力工具，多功能性和高解析度使其成為許多應用中非常有價值的工具。其中又可分為穿透式電子顯微鏡和掃描式電子顯微鏡。穿透式電子顯微鏡(TEM)可為用戶提供更高的解析能力和多功能性，但卻比掃描式電子顯微鏡(SEM)更昂貴且佔地空間更大。

在許多情況下，我們必須對環境做量測或監控，以確保環境在符合標準的磁場、震動、聲波等範圍內。例如：在安裝電子顯微鏡、電子束微影系統、CD-SEM 和聚焦離子束顯微鏡等儀器之前的環境評估、找出實驗室設備運作問題的原因、長期維持敏感設備穩定度等等。

研究植牙的清潔度，主要的挑戰在於識別長度不超過5~15mm的植體上是否具污染物，作為判斷的必要資訊大多為微奈米等級，以分析植入植體是否潔淨、受污染、或是僅含有少量雜質，進而從中了解可能會對病人造成哪些影響。

對於不同的燈絲源，就性能來說，場發射（FEG）燈絲源生成的高解析圖像最為出色，但是它要求的真空度很高，需要高價的真空設計。因此，對於倍率不需要那麼高的使用者來說，就會更注重能夠以較低成本生成高質量的圖像。這就是為什麼您經常看到鎢燈絲和CeB6燈絲在桌上型電子顯微鏡供應商提供的規格表中。而燈絲的成本效益與它的使用壽命和機台日常維護有關。