首頁 > Scanning Electron Microscope

Scanning Electron Microscope

新一代Phenom大樣品艙電子顯微鏡透過了優越的自動化系統提升了品質管理

多年來,掃描式電子顯微鏡(SEM)已成為品質管理的重要工具。 許多行業用SEM來分析在微觀層面上的缺點和雜質,他們可以藉由分析結果來調整生產過程,以確保每種產品在製造上都能符合相同的高品質標準…

新一代Phenom大樣品艙電子顯微鏡透過了優越的自動化系統提升了品質管理 閱讀全文 »

返回頂端