
掃描式電子顯微鏡(SEM)選購要點:鎢燈絲和CeB6燈絲差在哪?
對於不同的燈絲源,就性能來說,場發射(FEG)燈絲源生成的高解析圖像最為出色,但是它要求的真空度很高,需要高價的真空設計。因此,對於倍率不需要那麼高的使用者來說,就會更注重能夠以較低成本生成高質量的圖像。這就是為什麼您經常看到鎢燈絲和CeB6燈絲在桌上型電子顯微鏡供應商提供的規格表中。而燈絲的成本效益與它的使用壽命和機台日常維護有關。
對於不同的燈絲源,就性能來說,場發射(FEG)燈絲源生成的高解析圖像最為出色,但是它要求的真空度很高,需要高價的真空設計。因此,對於倍率不需要那麼高的使用者來說,就會更注重能夠以較低成本生成高質量的圖像。這就是為什麼您經常看到鎢燈絲和CeB6燈絲在桌上型電子顯微鏡供應商提供的規格表中。而燈絲的成本效益與它的使用壽命和機台日常維護有關。
為了不斷提高電子顯微鏡解析度和成像品質,製造商的環境規範變得越來越嚴格,配備光譜儀的高階顯微鏡只能承受高達 10 或 20 奈米特斯拉的干擾;在無法遷移其他設備並重新安置所有設施的情況下,可以採取不同措施來應對震動和磁場的嚴重性並抵消其影響。
在研發實驗室,我們選擇了 Thermo ScientificTM Phenom XLTM 桌上型掃描式電子顯微鏡 (SEM) 作為我們製程驗證程序的一部分,除了易用性和能容納 100 mm x 100 mm 樣品大小之外,Thermo Scientific Phenom XL 還擁有各類型的桌上型SEM中最快的放樣速度。
從繪畫、油漆到黏合劑或用於防護塗層、光學、催化或絕緣的塗層,在所有這些塗層中,磷酸鹽轉化塗層發揮著重要作用,尤其是在汽車工業中,因為此材料具有耐腐蝕性和潤滑性,由於這些塗層用於關鍵組件上,因此塗層製程必須經過徹底的品質檢測,在本篇文章中,將闡述和分析自動化工具(PPI)與 Phenom 桌上型掃描式電子顯微鏡相結合如何有助於防護塗層的品質檢測。
什麼是場發射電子顯微鏡(FE-SEM)?FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡(SEM)有什麼不同?本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源,並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別,勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔!
在 5G 時代,我們的生活與科技息息相關,電子產品的好壞直接關係到我們日常的便利與體驗品質,而電子產品中的關鍵角色——印刷電路板(PCB)的重要性更日益增加。本文將介紹 PCB 產業的現況與 PCB 切片分析技術操作原理,一同揭開它的神秘面紗。
在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。
在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。
IC切片手法大致分為裂片 (Cleavage)、傳統機械研磨(Grinding)、離子研磨CP(Ion Milling)、聚焦離子束FIB(Focused Ion Beam)等四種。想要知道四種IC切片手法的優缺點與適用環境嗎?本文除了詳細解釋以外,還附上案例照片影片供您參考喔!
光學顯微鏡是透過可見光來成像,廣泛應用於生物學、醫學研究、材料科學、電子和半導體等各產業。然而,從毫米、微米、到奈米,越來越多研究與應用需要觀測到更微小的結構,光學顯微鏡逐漸無法滿足需求。本文說明為何電子顯微鏡成為科學界的新寵,及該如何在光學顯微鏡與電子顯微鏡之中做選擇。
諮詢專線:0800-888-963|公司傳真:02-22180048|Email:sales@kctech.com.tw|地址:新北市中和區中山路二段 389 號 2F|Copyright © 勀傑科技有限公司
諮詢專線:0800-888-963
| 公司傳真:02-22180048
| Email:sales@kctech.com.tw
| 地址:新北市中和區中山路二段389號2F
Copyright © 勀傑科技有限公司