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桌上型SEM

掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)的技術及應用

掃描穿透式電子顯微鏡STEM 技術是在 TEM 的基礎上發展而來,可在保持高透射解析度的同時掃描樣品表面,以提供更多的表面和成分資訊。在材料科學上依靠不同的影像模式,研究者可以對微結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域,如組織病理學的研究,能利用低電壓 來避免對樣品的損傷。Phenom 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中應用,為使用相關技術的科研人員提供強大支持工具。

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透過自動化SEM分析 加速電池材料陰極的品質控制

電池材料陰極及其前驅物的粒徑分佈和微觀結構對其能量密度和安全性至關重要,在生產過程中需要嚴格監控這些電池材料粒子的品質。掃描式電子顯微鏡被用於製造過程的品質控制,以識別電池原材料及其中間產品的品質變化。本篇應用說明透過SEM自動化分析NCM陰極及其前驅物,以提高工廠生產效率。

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提升鋰電池研究優勢:與氬氣相容的桌上型掃描式電子顯微鏡Phenom XL G2

鋰離子電池在越來越多的應用領域廣泛使用,鋰電池材料分析的主要挑戰在於它們在空氣中非常易起反應。Phenom XL G2氬氣兼容桌上型掃描式電子顯微鏡採用專門技術,是唯一能夠完全放置在充滿氬氣手套箱內的掃描式電子顯微鏡,讓您能夠對對空氣敏感的鋰電池樣品進行研究。

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掃描式電子顯微鏡(SEM)和穿透式電子顯微鏡(TEM)如何選擇?

電子顯微鏡已經成為檢測各種材料上的有力工具,多功能性和高解析度使其成為許多應用中非常有價值的工具。其中又可分為穿透式電子顯微鏡和掃描式電子顯微鏡。穿透式電子顯微鏡(TEM)可為用戶提供更高的解析能力和多功能性,但卻比掃描式電子顯微鏡(SEM)更昂貴且佔地空間更大。

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桌上型掃描式電子顯微鏡——材料分析如何降低植牙失敗風險

研究植牙的清潔度,主要的挑戰在於識別長度不超過5~15mm的植體上是否具污染物,作為判斷的必要資訊大多為微奈米等級,以分析植入植體是否潔淨、受污染、或是僅含有少量雜質,進而從中了解可能會對病人造成哪些影響。

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掃描式電子顯微鏡(SEM)選購要點:鎢燈絲和CeB6燈絲差在哪?

對於不同的燈絲源,就性能來說,場發射(FEG)燈絲源生成的高解析圖像最為出色,但是它要求的真空度很高,需要高價的真空設計。因此,對於倍率不需要那麼高的使用者來說,就會更注重能夠以較低成本生成高質量的圖像。這就是為什麼您經常看到鎢燈絲和CeB6燈絲在桌上型電子顯微鏡供應商提供的規格表中。而燈絲的成本效益與它的使用壽命和機台日常維護有關。

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