Spicer Consulting SC24 主動式消磁器能同時減少AC交流電和DC直流電的磁場干擾，，包含來自電梯、火車、交通工具和其他機台干擾，使電子顯微鏡恢復最高品質的成像結果。針對外部磁場變化為自動回應…
Spicer Consulting SC22 主動式消磁器減少了環境周圍的AC交流電磁場干擾，使機台恢復最高品質的成像結果。針對外部磁場變化為自動回應，回應時間小於100微秒，在50x 50/60 Hz消除2.5 Hz到5000 Hz AC交流電場干擾…
桌上型電子顯微鏡全新操作介面整合SEM和EDS為一全屏螢幕，觀測分析一次到位。Thermofisher Scientific 於2020年7月發表新一代Phenom ProX G6電子顯微鏡，針對規格與軟體進行大幅度升級…
Phenom SEM自動化系統依據客戶需求設定，以自動化方式實現品質管理。Thermofisher Scientific 於2020上半年推出新一代Phenom XL G2電子顯微鏡…
掃描式電子顯微鏡（SEM）使用電子束從納米尺度的樣品中獲取資訊。檢測到的主要信號類型是背散射電子（BSE）和二次電子（SE），它們在高倍率下生成樣品的灰度圖像…
SEM、TEM電子顯微鏡是現今微米、奈米科技研發與檢驗的重要工具，用來觀測微結構的表面形貌和物質的元素組成，然而環境周圍的電磁干擾、震動、噪音也會對電子顯微鏡的性能造成影響，如何有效量測並分析環境具有哪些干擾因子並將干擾程度數據化，以幫助研究員選擇對應的解決方案，成為了現代科學中一門重要的課題…
什麼是粒徑分析？為什麼需要粒徑分析？粒徑分析儀器的選擇取決於應用目的，除了微米級和奈米級分析方式有所差別外，各設備的優缺點也不同。若是需要量測顆粒尺寸、顆粒數量及分佈資訊，還要同時掌握顆粒表面形貌和結構，那麼電子顯微鏡就必須納入考量！
2023年半導體雖然面臨後疫情時代的市場挑戰，先進製程微縮仍是半導體製造業的發展趨勢，其中電子束微影（Electron Beam Lithography，簡稱EBL）更是具潛力發展的技術之一，其應用範圍包含：微小電子元件、生物芯片、光學元件、量子器件、奈米結構材料、微型機械結構等領域。因此，如何在複雜技術中提高良率以降低成本，解決電磁干擾等環境問題至關重要。
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