掃描式電子顯微鏡:電子信號種類與其提供的資訊
電子顯微鏡是一台具備多功能的精密儀器,根據使用者的需求,可提供不同類型的資訊。本篇文章描述在掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope, 簡稱SEM)中產生的電子信號種類…
電子顯微鏡是一台具備多功能的精密儀器,根據使用者的需求,可提供不同類型的資訊。本篇文章描述在掃描式電子顯微鏡(scanning electron microscope, 簡稱SEM)中產生的電子信號種類…
Technoorg Linda來自歐洲匈牙利大廠,為各種材料和樣品提供最高質量的離子束減薄技術,產品應用遍及工業界精密實驗室、政府機關和學術領域,目前在全球五大洲的近40個國家/地區擁有合作夥伴,未來將持續提高關鍵技術幫助客戶突破樣品製備的困境…
繼上一次我們對於市面上的口罩種類進行研究分析後,今天我們想來聊聊關於COVID-19這個病毒。 目前COVID-19持續在全球造成嚴重影響,直至今日確診人數已高達2936243人,並持續再增加…
在過去的實例中, 專業研究團隊曾研究了牛至(某種植物名稱)精油在環糊精(β-Cyclodextrin,用於藥物賦形劑)中的封裝,並使用Particle Metric粒徑分析軟體,確定微粒的平均尺寸,驗證…
「放大」是一個非常簡單的概念,但有時會因為本身的定義而造成混淆,然而隨著科學進步,對微米和奈米世界的興趣呈指數增長,因此需要量化放大倍率。現今對放大倍率的定義是兩次測量之間的比率,意指需要…
IC切片手法大致分為裂片 (Cleavage)、傳統機械研磨(Grinding)、離子研磨CP(Ion Milling)、聚焦離子束FIB(Focused Ion Beam)等四種。想要知道四種IC切片手法的優缺點與適用環境嗎?本文除了詳細解釋以外,還附上案例照片影片供您參考喔!
在半導體製程當中,想要精確的發現製程缺陷,少不了半導體缺陷分析。而在這中間表面分析儀器與手法更是重中之重。本文大略介紹了何為表面分析技術,以及一些常見的表面分析工具,包含SEM、XPS、AES、AFM和SIMS,還有這些工具在不同步驟中的應用。
勀傑科技 編譯 一個電子顯微鏡穩定的環境條件建立,其關鍵是由專門服務提供者或設備供應商進行嚴格的安裝前檢查,確保是否有影響成像品質的任何外在因素。 通常,會包括測量聲級和 X、Y、Z 方向的磁場及地面振動,並與要安裝的設備環境規格進行直接比
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