應用專欄

光學顯微鏡的優勢與限制:為何電子顯微鏡成為科學界的新寵

光學顯微鏡是透過可見光來成像,廣泛應用於生物學、醫學研究、材料科學、電子和半導體等各產業。然而,從毫米、微米、到奈米,越來越多研究與應用需要觀測到更微小的結構,光學顯微鏡逐漸無法滿足需求。本文說明為何電子顯微鏡成為科學界的新寵,及該如何在光學顯微鏡與電子顯微鏡之中做選擇。

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電子顯微鏡環境干擾因素的探討與解決方案

SEM、TEM電子顯微鏡是現今微米、奈米科技研發與檢驗的重要工具,用來觀測微結構的表面形貌和物質的元素組成,然而環境周圍的電磁干擾、震動、噪音也會對電子顯微鏡的性能造成影響,如何有效量測並分析環境具有哪些干擾因子並將干擾程度數據化,以幫助研究員選擇對應的解決方案,成為了現代科學中一門重要的課題…

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粒徑分析一篇就懂

粒徑分析一篇就懂!你適合哪種粒徑分析儀器量測?

什麼是粒徑分析?為什麼需要粒徑分析?粒徑分析儀器的選擇取決於應用目的,除了微米級和奈米級分析方式有所差別外,各設備的優缺點也不同。若是需要量測顆粒尺寸、顆粒數量及分佈資訊,還要同時掌握顆粒表面形貌和結構,那麼電子顯微鏡就必須納入考量!

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如何提高電子束微影的良率:掌握消磁器選擇的關鍵

2023年半導體雖然面臨後疫情時代的市場挑戰,先進製程微縮仍是半導體製造業的發展趨勢,其中電子束微影(Electron Beam Lithography,簡稱EBL)更是具潛力發展的技術之一,其應用範圍包含:微小電子元件、生物芯片、光學元件、量子器件、奈米結構材料、微型機械結構等領域。因此,如何在複雜技術中提高良率以降低成本,解決電磁干擾等環境問題至關重要。

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TEM grid載網規格與用途簡介,選擇適用的載網,確保製樣流程順利

TEM grid載網規格與用途簡介

穿透式電子顯微鏡(TEM)中使用的載網(grid,支撐網,或以常用規格鍍碳銅網代稱),為特殊結構,非常薄,通常在10到100奈米之間,主要用於支撐樣品,使電子能穿透樣品,並幫助樣品定位,同時減少不需要的背景信號。載網有多種圖案和材質可供選擇,其上也可加上不同薄膜/塗層,以適合各種應用。

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